起订量:
BKTEM-Dx 热电材料性能测试仪
高级会员第9年
生产厂家北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备,安全控制设备,计量检测设备,科学研究设备,3D打印及空间技术的研发和销售的 高科技公司,我们将同国内单位和高等院校合作,服务于国内和国外广大客 户,我们将提供更多优质产品,优质服务,共同开拓进取。
我们主要经营的产品有:
1、压电材料测试仪:ZJ-3型d33测量仪,ZJ-4型压电测试仪,ZJ-5型积层压电测试仪,ZJ-6型d33d/d31/d15型准静态系数测量仪
2、铁电测试仪:ZT-4A型铁电测试仪,ZT-4C型铁电测试仪,JKGT-G300高温铁电材料测量系统
3、介电测试仪:低温介电测试仪,高温介电测试仪,高低温介电测试仪
4、热电材料测试仪:热电效应测试仪
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪介绍:
关键词:热电,Seebeck系数,电导率,电阻率,n或p型热电材料π对热电转换效。
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是是其对热电材料π对与器件的热电转换效率测试,用于测试、分析和研究两个相同或不相同的n或p型热电材料π对的热电转换效率。对于热电材料的研究,热电性能测试的试验数据。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系数及电导率,主要原理和特点如下:
该装置由高精度,高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
测试原理:
原理:
(1)通过测量派对或器件开路电压和短路电流求得派对或器件的输出功率。
(2)采用合适尺寸的温差电热流量计测量通过热电派对或器件的热流量,其温差电热流量计的工作原理是:当对温差电制冷片通电时,其一端降温一端升温,降温端朝向热电材料的冷端,升温端连接恒温的冷却水(恒温),利用经过校准的通过热量计的高低温端工作温度--制冷量关系方程式求出不同温度梯度下流经温差电热流计的热流量,即为通过派对或器件的热流。
(3)大输出功率与通过的热流相比求得转换效率。
适用范围:
1、碲化铋类、碲化铅类、碲化锗类、方钴矿类、电子晶体-声子玻璃类、纳米超晶格类、功能梯度类、Half-Heusler类热电材料π对与器件的热电转换效率测试,用于测试、分析和研究两个相同或不相同的n或p型热电材料π对的热电转换效率。
2、地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。
3、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
4、拥有自身分析软件,独立分析,过程自动控制,界面友好。
技术特点:
解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。
热电材料π对与器件的热电转换效率测试,用于测试、分析和研究两个相同或不相同的n或p型热电材料π对的热电转换效率。
温度检测可采用J、K型热电偶,降低测试成本。
每次可测试1-3个样品。
采用高级数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
具备真空和Ar气保护两种工况选项。
主要技术参数:
BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 | |
测量温度 | 室温-600℃ | 室温-600℃ | 室温-600℃ |
同时测试样品数量 | 1个 | 2个 | 3个 |
控温精度 | 0.5K(温度波动:≤±0.1℃) | ||
热流量测量 | 采用温差电热流计测量流经试样却没有被转换的热流 | ||
测量原理 | 塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法 | ||
测量范围 | 塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞贝克系数:10nV/K;电阻系数:10nOhm | ||
测量精度 | 塞贝克系数:<±6%;电阻系数:<±5% | ||
样品尺寸 | 方条形:2-3×2-3mm×10-23mm长 | ||
热电偶导距 | ≥6mm | ||
电流 | 0to160mA | ||
气氛 | 减压He(具备真空和Ar气保护两种工况选项,真空工况下,真空度:≤6×10-2Pa) | ||
加热电极相数/电压 | 单相,220V | ||
热电转换效率输出功率 | 0.01W~10W | ||
夹具接触热阻 | ≤0.05m2K/W,夹具界面石墨或Ag化处理 |
单一样品测试系统原理示意图
图2双样品测试系统原理示意图