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X射线电镀膜厚分析仪
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我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。
详细信息
X射线电镀膜厚分析仪
【详细说明】
荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，生产力，再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
可测元素范围：
钛() – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
压：0-50KV(程控)
主要特点
测量范围宽，可检测元素范围；
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；
精度、稳定性好；
强大的数据统计、处理功能；
标准片；
简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权
Ø主管人员可进行系统维护
Ø系统自动生成操作员的使用记录
Ø自动锁定功能防止未授权的操作
ØZ轴保护传感器
Ø安全防射线光闸
Ø样品室门开闭传感器
ØX射线锁
ØX射线警示灯
Ø紧急停止按钮
Ø前面板安全钮和后面板安全锁
综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
X射线电镀膜厚分析仪
