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Winner2008 湿法大量程激光粒度仪

型号
Winner2008
济南微纳颗粒仪器股份有限公司

顶级会员21年 

生产厂家

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激光粒度仪;激光粒度分析仪;便携式高分辨激光粒度分析仪;Winner2000台式高性能;干粉激光粒度分析仪(Winner3001);喷雾激光粒度分析仪;喷雾激光粒度仪Winner210系列;激光粒度仪Winner2018组合式;Winner99显微颗粒图像分析仪/颗粒图象仪/颗粒仪;无约束自由拟合技术;内置循环系统;动态检测;

       济南微纳颗粒仪器股份有限公司是集研发、生产、销售激光粒度仪国产激光粒度仪、纳米激光粒度仪、激光粒径分析仪、喷雾粒度仪设备于一体的高新技术企业。公司研究的激光粒度测试技术自1982年 承担国家“七五”科技攻关项目伊始,至今已有30余年的历史。

       微纳颗粒公司以 “发展与普及当代先进的颗粒测试技术”为己任,以“度万物之微,纳四海之阔”为追求目标,研制 的激光粒度仪纳米粒度仪颗粒图像分析仪喷雾粒度仪在线粒度仪等系列颗粒分析仪器均代表了国内同行业先进水平。

        济南微纳公司以 高校为依托,培养了一批强大技术开发团队,90%以上的员工具有大学本科以上学历,其中包括光学、电子、计算机、化工、材 料各方面的专家和教授。公司的*专家任中京教授是我国激光粒度分析技术的研创者之一,在颗粒测试领域享有崇高声誉。微纳公司还与国内许多大学、研究机构建立了良好的合作关系,经常进行新技术的交流并合作进行大型科研项目的开发,增强了技 术实力。以激光粒度仪为代表的微纳品牌颗粒测试系列仪器分为七大类三十多种产品可以满足各种用户的颗粒测试需求。微纳产品不但国内,还大量销往海外,以其过硬的质量和坚强的技术支持与服务获得广大用户的好评。获得中国业内创新企业、中国颗粒测试技术的研发者等荣誉称号。

       为了追求公司的长远战 略,实现更大空间的跨越式发展,在山东省济南市和高新区政府的大力支持下,公司于2014年作为中国颗粒测试行业的*支 股票,于元月24日在北京“全国中小企业股份转让系统” 成功登陆新三版。证券名称为“微纳颗粒” ,证券代码为430410,实现了中国颗粒仪器界在股市上零的突破,代表着一个行业走向成熟的里程碑。

公司网站:www.jnwinner.com。

全国服务请联系: 0531-88873312

微纳公司请联系:4000- 1919-82。

 

详细信息

Winner2008是一款测试范围覆盖毫米、微米、亚微米、纳米全量程的智能型湿法大量程激光粒度仪。采用了双光束多频谱探测系统和侧向光散射测试技术,大幅提高了仪器测试的精度和性能,代表了国内该领域的先进水平。

 

Winner2008智能型湿法大量程激光粒度仪,广泛应用于具有高要求的水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、水煤浆及其他粉体行业。

 
技术参数:

 

规格型号

Winner2008A

Winner2008D 

执行标准

ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008;Q/0100JWN001-2013

测试范围

0.01-2000μm

0.01-1200μm 

通道数

127

127

准确性误差

<1%(国家标准样品D50值)

重复性误差

<1%(国家标准样品D50值)

激光器参数

主激光源:高性能He---Ne激光器  λ= 632.8nm,  p>4.0mW 

    辅助激光源:半导体激光器,λ= 650nm;p>10mW

分散

方法

超声

频率:f=40KHz,   功率:p=50W

搅拌

转速:0-3000rpm转速可调

循环

额定流量:30L/min    额定功率:70W

样品池

容量:1000mL

微量样品池

容量:10mL(可选)

操作模式

软件操作 / 智能全自动操作模式可切换

自动对中系统

全自动对中系统

测试速度

<2min/次

体积

660mm×320mm×400mm

重量

65Kg

智能型特点

自动调整测试浓度

 

 

 

产品特点和优势:

 

采用全内置分散系统

使用大功率循环泵,对管路进行优化设计,使整体控制协调性达到*水平,有效防止了大颗粒的二次沉淀。

 

采用精密四相混合式步进电机,组成光路自动对中系统

采用精密四项混合式步进电机组成光路自动对中系统,微动精度达到微米级别,使仪器光路始终处于*状态。

 

无约束自由拟合技术

微纳*的无约束自由拟合技术,不受任何函数限制,可真实反映颗粒的分布状态。 

 

微纳

光路设计

采用会聚光傅立叶变换技术,使散射光不受透镜孔径限制;采用三谱面光路设计,有效扩大测量范围至2000 μm;*双激光正交光路使用半导体辅助激光器测量侧向散射45°至135°,将测量范围进一步扩展。

 

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