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K-D1410 体积表面电阻率测试仪*

型号
K-D1410
苏州凯特尔仪器设备有限公司

中级会员12年 

生产厂家

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详细信息

体积表面电阻率测试仪测试完毕将电阻电流量程拔至“104”档,电压量程调至10V后关闭电源;每测量一次均应将量程开关拨回到104“调零”档的量程位置以免开机或测量端短路时而损坏仪器测量电流及1015Ω以上超高电阻的测量应用时,测量电流后用欧姆定律以电压除以电流计算电阻的方法体积电阻和表面电阻转换:在测试过程中,使用屏蔽箱在进行体积电阻和表面电阻转换时,必须把电源关闭后进行档位转换,否则会导致电压冲击到主机无法显示或损坏

K-D1410体积表面电阻率测试仪

一、技术指标
1.电阻测量范围:1×104Ω~1×1018Ω,分为十个量程。
2.电流测量范围为2×10-4A~1×10-16A
3.全数字液晶屏显示。
4.准确度:准确度优于下表:
量程有效显示范围20~30℃RH<80%
1040.01~19.991%
1050.01~19.992%
1060.01~19.993%
1070.01~19.994%
1080.01~19.995%
1090.01~19.995%
10100.01~19.995%+2字
10110.01~19.995%+2字
10120.01~19.995%+5字
10130.01~19.9910%+5字
10140.01~19.9910%+5字
1014以上0.01~19.9910-15%+5字
(超出有效显示范围时误差有可能增加)测试电流准确度与电阻相同
测试电压准确度为10%
5.使用环境:温度-10℃~50℃相对湿度<90%。
6.测试电压:DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7.供电形式:AC220V,50HZ,功耗约10W。
8.仪器尺寸:300mm×280mm×150mm。
二、主要特点
电阻测量范围1×104Ω~1×1018Ω;
电流测量范围2×10-4A~1×10-16A;
体积小、重量轻、准确度高;
*的被测电阻、和流过电阻的电流双显示,使操作测量更加方便;
性能稳定、读数方便;
既能测电阻又能测电流;
测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V;
使用操作简便,在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果,免去要乘以一个系数的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。
三、概述
本仪器既可测量超高电阻,又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及的技术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω~1×1018Ω,电流测量范围为2×10-4A~1×10-16A。机内测试电压为DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。
本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便,适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等。
四、工作原理
根据欧姆定律,被测电阻R等于施加电压V除以通过的电流I。即R=V/I
传统的仪器的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过被测物体的电流I以标定电阻的刻度来读出电阻值。从上式可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计的精度是很难提高的。
体积、表面电阻率测定仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几。
五、主要应用范围
材料高阻测试测量如防静电产品(防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等)电阻值的检测;
材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量;
电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究;
微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。

应在“Rx”两端开路时调零(主机开机):如接在电阻箱或被测量物体上时调零后测量会产生很大的误差;一般一次调零后在测试过程中不需再调零,但改变测量电压后可能要重新调零禁止将“Rx”两端短路(三个电极不允许直接接触),以免微电流放大器受大电流冲击导致仪器损坏在测试过程中不要随意改动测量电压:随意改动测量电压可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器

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