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FRANG-SR100 光学薄膜测厚仪
高级会员第8年
经销商孚光精仪是进口精密仪器和实验室仪器设备供应商,是*基于激光和成像等光子技术分析测试仪器的规模性进口商和代理商,服务商。
孚光精仪公司以精密光学技术为特色,以光学应用为宗旨,以欧洲,北美和日本进口精密仪器为主业,为中国客户提供*分析测试仪器产品,促进光学技术产品在中国的应用和相关技术水平提升。
21世纪是光学世纪,激光,光谱,光学成像等光学技术极大地促进生物光子学,燃烧和流体力学光学诊断,光谱测试分析等学科发展和技术提升,成为前沿科学和先进制造*的分析,计量,测试和实验工具手段,因此“光学”成为“精密”的代名词,是*精密测试分析的有力实验技术。
孚光精仪公司就是这样一个以光学为特色的进口仪器和实验室设备公司,拥有齐全的进口精密(光学)仪器种类,庞大而可靠的国外生产商群体,和快捷高效的贸易体系,是用户信赖的进口分析测试技术仪器和实验室仪器的旗舰型供服务商。
公司品牌释意
孚:信服/conviction,
光:光学/optics
精:精密/
precision
仪:仪器/Instruments
我们信服于光学,致力于光学精密仪器事业。
公司价值
孚光精仪-精通光学,服务科学
经验丰富的激光和光学技术工程师帮助用户出具方案,确认适合应用的精密
光学仪器和科学仪器装置,为用户提供“舒心,省心”的进口体验。荧光光学成像仪器 (包括FRET系统,TIRFM显微镜系统, 钙成像显微镜系统,荧光寿命成像系统,生物发光和荧光发光成像系统等生物光子学仪器)
分子生物学
光学仪器( 包括凝聚成像,生物发光和荧光发光成像系统等)医用
光学仪器(内窥成像,生物活检成像,辐射成像等)光谱分析
测试仪器 (激光拉曼光谱仪, FTIR光谱仪,LIBS光谱仪等)激光粒度仪器 (基于激光和图像技术的粒度和浓度
测试仪器)光学成像仪器 (高速成像,红外热成像,X射线成像)
光谱成像系统 (包括高光谱成像,多光谱成像仪器)
燃烧和流体力学光学诊断技术和仪器 (基于激光和成像技术,融合光谱分析技术组建PIV,PLIF,温度探测,燃烧分析成像等仪器)
无损光学检测仪器(如果激光散斑干涉,EPSI,X射线成像,热成像,光学内窥等仪器)
AFM, SEM,SPM等特种光学显微镜
通用
实验室仪器和设备(包含所有涉及光学技术的实验仪器)生物光子学
生命科学
医学成像
制药
食品工程
化学和化工
实验室仪器和实验室建设
流体力学
工程热物理
燃烧诊断分析
发动机研发
航空航天
地球物理科学
地质和石油勘探
半导体和微电子
先进制造
新能源
材料科学
仪器科学与技术
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客户群体
高等院校
*系统研究院所
中国国有企业及其研究院所
外资企业
高效的服务体系
总部位于上海,在上海自贸区和天津自贸区具有仓库,在香港设立贸易公司,拥有遍布全国的代理商,供应商遍布美国、德国、英国、法国、意大利、奥地利、瑞典、捷克、立陶宛、爱沙尼亚等精密仪器优势国家和地区。
公司受益于香港便捷的贸易条件以及上海自贸区和天津自贸区的高效进口程序,为客户提供高效技术仪器进口服务,为制造商提供高效出口服务。
灵活的购买方式
孚光精仪在天津和上海均有进口公司,众邦企业(天津)贸易有限公司和辅光精密仪器(上海)有限公司,具有商检,报关,进出口等高贸易资质,为客户提供优质而专业的进口服务,帮助出口商/制造商完成清关服务,并送货到用户地址。
外方经理定期来华办公指导 工作园区一角\
公司电子*门办公一角 员工文化墙一角
用户的青睐和信任
我们高效的服务和质优价廉的产品赢得了广大的青睐和信赖,成为声誉*的*产品和服务供应商。国内的科研单位多次从我公司订购各种产品。如:
*上海光机所
*西安光机所
*安徽光机所
*长春光机所
*合肥物质研究院
*物理研究所
*光电研究院
*福建物质结构研究所
中国工程物理研究院
华中光电技术研究所
中国电子集团公司53所
清华大学
北京大学
中国科技大学
哈尔滨工业大学
山东大学
武汉大学
南开大学
天津大学
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光学薄膜测厚仪是采用光谱反射计SR技术的反射光谱膜厚仪,测量薄膜反射光谱,测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。
这款光学薄膜测厚仪具有较长工作距离,工作距离可调,超大样品台,可选光源等特点。
光学模板测厚仪特点
易于安装
软件基于Windows系统,方便使用
**光学设计,良*系统表现
阵列光谱探测器保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率高达5层
可测量反射,透射和吸收光谱
可用于实时在线的薄膜厚度和折射率测量
具有齐全的材料光谱舍数据库
可升级到显微分光光度计
适合不同衬底和不同薄膜厚度测量
光学薄膜测厚仪规格参数
型号 | SR100 | SR300 | SR400 | SR450 | SR500 | SR600 |
探测器类型 | CCD或CMOS阵列 | CCD或CMOS阵列 | InGaAs阵列 | CCD或CMOS和InGaAs 阵列 | CCD或CMOS和InGaAs 阵列 | InGaAs阵列 |
波长范围 (nm) | 190-1100 | 370-1100 | 950-1700 | 370-1700 | 190-1700 | 1000-2500 |
波长分辨率 | 0.01 -3nm | 0.01 -3nm | 3 to 6nm | 0.01 to 3nm | 0.01 to 3nm | 3 to 6nm |
厚度测量范围 | 5nm-50 µm | 20nm-1000µm | 100nm-300µm | 20nm-200µm | 5nm-200µm | 20nm-300µm |
厚度测量精度 | < 1Å (1 sigma from 50 thickness readings for 1500Å Thermal SiO2 on Si Wafer) | |||||
厚度精度 | better than 0.5% (comparing with ellipsometry results for Thermal Oxide sample by using the same optical constants) | |||||
反射探头光谱范围 | DUV-Vis | Vis-NIR | NIR | VIS-NIR | DUV-Vis-NIR | NIR |
样品台 | 黑色阳极氧化铝合金,样品高度可轻松调节,尺寸为200mmx200mm | |||||
工作距离 | ~ 25mm (从样品表面计算) | |||||
测量时间 | 0.1ms-10s,可设置定义 | |||||
用户可设置定义 | 波长范围、波长点、积分时间、光谱平均数、平滑因子 | |||||
接口 | USB | |||||
计算机操作系统要求 | Both 32bit and 64 Bit, Win XP, 7, 8, 10 | |||||
计算机***低配置 | P3 above with minimum 150 MB space, 2GB RAM; CD-ROM; at least 2 USB ports | |||||
供电要求 | 110– 240 VAC /50-60Hz, 1.5 A | |||||
光源 | Deuterium + Tungsten Halogen | Tungsten Halogen | Tungsten Halogen | Tungsten Halogen | Deuterium + Tungsten Halogen | Tungsten Halogen |
光源强度 | Adjustable | Adjustable | Adjustable | Adjustable | Adjustable | Adjustable |
灯泡寿命 | 4000 hrs. | 10000 hrs. | 10000 hrs. | 10000 hrs. | 4000 hrs. | 10000 hrs. |
光学薄膜测厚仪典型应用
半导体制造
液晶显示屏测量
刑侦
生物膜测量
矿石地质分析
制药医学分析
光学镀膜测量
功能薄膜MEMS测量
太阳能电池薄膜测量