BKTEM-D1热电性能分析系统

关键词：热电材料，Seebeck系数，电导率， 电阻率，V-1装置

产品介绍：     

BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是我国热电材料的设备，是国家材料计划中前沿装备其测试性能远超越国内外热电材料测试仪，不仅可以用于块体材料同时也可以用于薄材料的测试，是目前国内高等院校和材料研究所的重要设备。

     对于热电材料的研究，热电性能测试是*的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:

该装置由高精度，高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采用四点法的方式精确测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

一、适用范围：

1、精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。

3、块体和薄膜材料测均可以测试。

4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

5、拥有自身分析软件，独立分析，过程自动控制，界面友好。

6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。

7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域.

二、技术特点：

·解决高温下温控精度不准的问题，静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。

温度检测可采用J、K型热电偶，降低测试成本。

每次可测试1-3个样品.
采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差，可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
三：主要技术：

测量温度：室温-600℃,800℃,1200℃ 可选

同时测试样品数量：1个，2个，3个 可选

控温精度：0.5K（温度波动:≤±0.1℃）

测量原理：塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法

测量范围：塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞贝克系数：10nV/K;电阻系数： 10nOhm

测量精度：塞贝克系数：＜±6％；电阻系数：＜±5％

样品尺寸：块体方条形：2-3×2-3 mm×10-23mm长，薄膜材料：≥50 nm

热电偶导距: ≥6 mm

电   流: 0 to 200 Ma

气   氛：0 to 160 mA

加热电极相数/电压：单相，220V，

夹具接触热阻：≤0.05 m2K/W

温度检测：采用J、K型热电偶