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pw-800 手动点针工作站失效分析电性测试探针台
- 型号
- pw-800
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仪准科技（北京）有限公司是一家专业提供集成电路失效分析及可靠行测试的服务商
主要服务项目：半导体失效分析设备，元器件失效分析可靠性测试
 | 非破坏性分析 |
| 小型测试机 / 半导体I-V特性曲线仪 / 探针台 / 显微镜观察分析 / 3D X-Ray / 超声波扫描显微镜 / |
| 破坏性分析 |
| 激光开封 / 手动开封 / 酸自动开封机 / 小型半导体器件铣床 / 微光分析仪 / 光致电分析仪 / 研磨抛光 / 探针台 / 扫描电子显微镜/能谱分析 / |
| 化学处理 |
| 取晶 / 反应离子刻蚀机 / 码点染色 / 显微照相 / 电子扫描显微镜/能谱分析 / |
| 聚焦离子束 |
| 微线路修改 / 测试键生长 / 纵向微切片解剖 / 微区刻蚀 / |
| 可靠性服务 |
| 预处理 / 冷热冲击(TC) / 高压蒸煮加速实验(HAST) / HTRB / 老化实验(Burn in) / 高压高湿实验(SPP) / |
| 静电测试(ESD/HBM/MM) |
| CDM / Latch up / HBM / MM / |
| 可焊性测试 |
| 沾湿天平(Wet Balance) / 锡须实验(Whisker) / |
| 研磨/抛光等耗材销售 |
| Allied / ProbeTips / |
详细信息
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域探针台
应用领域
●Failure analysis 集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization 元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成监控
●Package part probing IC封装阶段打线品质测试
●Flat panel probing 液晶面板的特性测试
●PC board probing PC主板的电性测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing 微波量测(高频)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED、OLED、LCD领域检测分析
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
型号： PW-400
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学术单位等
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
型号： PW-600/PW-800
规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
RF高频探针台
东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten
