冲击试样缺口投影仪符合国家标准具有操作简单，效率高，该试验设备屏幕上标有明显刻度，可精确读出缺口误差。

根据目前国内广大用户的实际需求按照GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》中冲击试样的要求而设计，开发的一种余检查夏比V型或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，一确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。该试验设备屏幕上标有明显刻度，可准确读出缺口误差。

冲击试样缺口投影仪符合国家标准产品参数：
投影屏 200×200mm
放大倍率 50X
V型缺口 深度：2mm,宽度：2mm
角度 45±1度
U型缺口 深度：2mm,宽度：2mm
光源 12V 100W（卤钨灯）
试样台调节 前、后、左、右、上、下、360°旋转
电源 200V 50HZ 200W
外型尺寸 515×224×603mm
重量 约18kg

对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口*要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口*的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用光学投影放大检查是*切实可行并能保证检查质量的方法。CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据日前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器。