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起订量：
CCD光电性能测试系统
- 型号
- 参数
- 应用领域:电气
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公司成立于2004年，在同行业中Z早获得*，拥有多项，其中“太阳能电池测试系统”、“光谱仪”、“精密位移台”三大系列产品被市科委、市*等5部门评为“北京市自主创新产品”，并列入政府采购目录。公司于2009年9月取得ISO9001质量体系认证。
赛凡拥有两大核心技术：光谱测试技术，精密运动控制技术
主要产品系列：太阳能电池光谱响应/IPCE/QE测试仪，太阳能电池I/V性能测试仪，太阳模拟器，椭偏仪，CCD光电性能测试仪，荧光/拉曼/发射/透反吸/探测器光谱测试系统，光栅光谱仪，CCD光谱仪，科研级光源，光电探测器，数据采集器，精密定位系统，电动/手动精密位移台，光具座，光学平台等。
公司自成立以来，始终秉持质量*，满足用户的经营理念，在注重提升自身研发能力的同时，和多家科研院所保持紧密合作关系，共同创建光电实验室，保证产品的*性和适用性。其中太阳能光伏实验室，为各类太阳能电池（单晶硅，多晶硅，薄膜电池，染料敏化电池等）的光谱响应测试及膜厚控制提供了完整解决方案。
我们始终如一，用心为您提供良好完整的解决方案，为您提供专业高效的技术支持，为您提供快速响应的售后服务，我们的追求就是让您始终满意，始终信任，始终选择 ！
详细信息
CCD光电性能测试系统又称CCD成像电子学系统光电联试定量测试设备。本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设 计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价的标准化和规范化起到积极推进作用。
CCD光电性能测试系统技术参数：
工作波段：380nm～1000nm(其他波长范围可选)
动态范围：≥80dB
光谱分辨率：≤0.5nm
峰值波长(测量精度)：优于±1nm
中心波长(测量精度)：优于±1.2nm
光谱带宽(测量精度)：优于±2nm
相对光谱响应度(测量精度)：优于2%
有效测量区域：≤Φ120mm
暗噪声：优于±0.5mv
信噪比(测量精度)：优于±5dB
饱和输出电压(测量精度)：优于±20mV
响应非均匀性(测量精度)：优于1%
响应非线性(测量重复性)：优于2%
噪声等效曝光量(测量精度)：优于2%
光辐射响应度(测量精度)：优于2%
测试项目：
饱和输出电压(SV：Saturation Voltage)
暗噪声或固态图像噪声(VNOISE or VFPN)
暗信号(DS：Dark Signal)
信噪比(SNR：Signal Noise Ratio)
响应度非均匀性(PRNU：Photo Response Non Uniformity)
光辐射响应度(R)
相对光谱响应度(RS)
电荷转移效率(CTE)
噪声等效曝光量(NEE)
饱和曝光量(SE)
动态范围(DR)
非线性度(NL)
