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仪电物光SGW X-4 显微熔点仪

型号
仪电物光SGW X-4
南京晓晓仪器设备有限公司

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详细信息

工作原理

物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度,在有机化学领域中,熔点测定是辨认该物质本性的基本手段,也是纯度测定的重要方法之一。

目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。

 

仪器结构原理

● 本仪器显微镜、加热台为一体结构,显微镜用来观察样品受热后的反应变化及熔化的全过程。

● 加热台用电热丝加热,并带有风机,可快速降温。

● 可用载玻片法测量,也可用毛细管测量熔点。

 

产品特点

● 本仪器使用毛细管法和载法波片两种方法进行测量。

● 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。

● 本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构,简单可靠,使用方便。

● 升温速率连续可调。我们建议你采用1℃分的升温速率测量熔点的温度值,在*次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号,则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意(1)室温的影响;在同样波段开关和电位器的编号下,室温越低,升温速率越慢。(2)电子元件的影响:电子元件的老化,升温速率一定时,其电位器的编号会有所变化,只要进行微调即可。编号越大,升温速率越快。

 

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