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起订量：
MPS-C-3X0 磁体探针台
- 型号
- MPS-C-3X0
First-Nano System GmbH
2003年 创立于德国德累斯顿工业大学（Dresden University of Technology）
2008年 香港成立德国韦氏纳米系统（香港）有限公司
2015年 上海成立德国韦氏纳米系统（香港）有限公司中国代表处，负责中国区业务
2018年 深圳正式成立韦氏纳米系统（深圳）有限公司，更好的为中国南方区市场
德国韦氏纳米系统成立以来，一直为客户想的更多，Thinking more ！！！
产品范围：
薄膜沉积/Thin Film Deposition
E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
刻蚀/Etching
RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
薄膜制程/Growth
ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
表面处理/Surface Treatment
Ion Beam, PIII, Plasma Cleaner, RTP
清洗/Cleaning
- Dry: Ion Beam, Plasma Cleaner
- Wet: Megasonic, 杜邦EKC清洗液
其他/Other,
Device Testing System for Space Simulation, Heated Platens, Plasma Sources, Resist Stripping Systems
详细信息
MPS-C-3X0磁体探针台系统是世界上*个探针台，能够在被测试的器件上提供三维磁场控制。
真正*的设计使自旋电子器件的做晶圆级测试、纳米电子和许多其他材料和器件在所需磁场中准确的测试和测量。自旋流和自旋矩振荡器测试，磁模拟和识别复杂的多层结构的各向异性只是应用
我们的MPS系统的几个案例。
MPS系列磁体探针台特点：
MPS系列磁体探针台是能提供在应用磁场中对任意两或三维定位的探针台，是自旋电子器件的特性和自旋电子学研究的一个最终的探针台解决方案。
MPS系列磁探针台是能提供的晶圆级别的矢量磁场探测的探针台，特适合于在生产环境中自旋和磁电子器件测试。
MPS系列磁体探针台*可定制的，基于开源的LabVIEW的控制软件，很容易与较常见的测试和测量设备集成。
高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探针的微米级定位螺钉。
数据收集和/或分析与广泛的输出格式和选项可用。
系统提供了三维霍尔探头，以提供的稳定性和精度所施加的磁场通过闭环控制。
可选项：
升级为150mm或200mm晶圆。
扩展磁场均匀性/稳定性。
高分辨率显微镜。
用于探测期间的域成像偏振显微镜。
升级射频探针
扩展温度范围探测
相机的广泛选择
晶片卡盘广泛的选择
对micropositioners广泛的选择，探针和探针*武器
超真空泵
受控环境测量
