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ContourGT-X3/X8 Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-X3/X8
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生产厂家公司自成立以来就一直专注于半导体、微组装和电子装配等领域的设备集成和技术服务;目前公司拥有一支在半导体制造、微组装及电子装配等领域经验丰富的专业技术团队,专业服务于混合电路、光电模块、MEMS、先进封装(TSV、Fan-out等)、化合物半导体、微波器件、功率器件、红外探测、声波器件、集成电路、分立器件、微纳等领域。我们不仅能为客户提供整套性能可靠的设备,还能根据客户的实际生产需求制订可行的工艺技术方案。
目前亚科电子已与众多微电子封装和半导体制造设备企业建立了良好的合作关系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),为向客户提供先进的设备和专业的技术服务打下了坚实基础。
布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球lingdao者,服务于科研和生产ling域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了先进的64位多核操作和分析处理软件,zhuan li技术白光干涉仪(WLI)硬件和*的操作简易性,是历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界zui高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,zui广泛使用和zui直观的3D表面计量平台。
应用:
对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半dao体行业以及数据存储行业等,提供*非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据
原理:
利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地dao致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。
特征:
◆ 测量硬件的*设计,增强生产环境中的可靠性和重复性;
◆ 多核处理器下运行的Vision64™ 软件,大大提高三维表面测量和分析速度
◆ 高度直观的用户界面,拥有业界zui强的实用性,操作简便和分析功能强大
部分选择项:
可选300mm可编程控制带编码器自动样品台
可选操纵手柄
可选高速聚焦;
可选缝合功能;