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SunScan植物冠层分析仪(标准版)
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SunScan植物冠层分析仪(标准版)通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图
原理:
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数
软件计算
SunScan植物冠层分析仪(标准版)主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数(LAI),软件中涉及到的参数有:
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中,天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的,叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的,其他的参数都是直接测量得出的
基本技术指标:
SS1探测器 | ||
探测器工作区域 | 1000×13mm宽,传感器间距15.6mm | |
探测器光谱响应 | 400 ~ 700nm (PAR) | |
探测器测量时间 | 120ms | |
探测器分辨率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |
探测器大读数 | 2500μmol.m-2.s-1 | |
精度 | ±10% | |
模拟输出 | 1 mV per μmol. m-2.s-1 | |
尺寸和重量 | 1300×100×130mm,1.7kg | |
供电 | 4节五号电池,约使用1年 | |
RPDA2手持终端 | ||
屏幕 | 1/4VGA屏幕,太阳光下依然显示清晰 | |
操作系统 | Windows Mobile6 | |
显示项目 | LAI、PAR平均值、每个传感器的读数 | |
手持终端工作环境 | IP67防护等级,-30-60℃ | |
电源 | 可充电电池,约使用12小时 | |
手持终端存储 | 支持>100M | |
尺寸和重量 | 165×95×45mm,450g |