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X-MET8000 系列 手持式 XRF 光谱仪
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生产厂家日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津,在芬兰、德国和中国有研发和组装业务,在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器的产品系列包括:
§ 微焦斑XRF镀层分析仪:FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可测量单层和多层镀层(包括合金层)的镀层厚度,适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。
§ 专业RoHS分析仪:日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专为“有害物质限制”分析而设计,快速且易用,其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。
§ 锂离子电池分析:EA8000A X射线粒子污染物分析仪专用于快速有效地控制锂离子电池生产的质量。
§ 热分析:热分析系列仪器DSC600、DSC200、STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100已经过优化,可检测和显示超小的反应,同时具有稳定可靠和易用等特点。
§ 手持式分析仪:数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术以简单、快速、无损分析的方式实现合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查。Vulcan由LIBS激光技术驱动,可在一秒钟内识别金属合金;非常有利于企业处理大量金属,是世界上超快速分析仪之一。
§ 多功能台式XRF分析仪:Lab-X5000和X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。
§ OES金属分析仪:全球许多行业使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直读光谱仪进行高精密度金属分析。
X-MET提供轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。
通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。
大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。
X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度低。
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。
通过MIL-STD-810G 耐用标准测试。
其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。
*灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
废金属回收 | ✔ | ✔ | ✔ |
材料可靠性鉴定(PMI)检查 | ✔ | ✔ | |
制造与 PMI QA/QC | ✔ | ✔ | ✔ |
贵金属 | ✔ | ✔ | ✔ |
监管机构合规筛查 (消费品、包装、原材料…) | ✔ | ✔ | |
环境土壤筛查 | ✔ X-MET8000 Optimum Geo | ✔ X-MET8000 Expert Geo | |
矿石和矿物 | ✔ X-MET8000 Optimum Geo | ✔ X-MET8000 Expert Geo | |
金属镀层厚度测量 | ✔ | ✔ | ✔ X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | ✔ | ✔ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光谱仪应用于QA/QC
应用于材料可靠性鉴定
应用于废旧金属回收
应用于采矿
应用于土壤重金属检测
应用于合规性检测
应用于镀层测厚
应用于考古
应用于贵金属和珠宝检测
X-MET8000 Smart
X射线管:40kV
滤光片:单一
检测器:大面积 SDD
高样本温度:400ºC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏
校准:基本参数法(FP)
内置摄像头 (可选)
X-MET8000 Optimum
X射线管:40kV or 50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准:基本参数法 (包括轻元素分析)
内置摄像头(可选)
小光班准直器(可选)
针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片
X-MET8000 Expert
X射线管:50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)
内置摄像头
小光班准直器 (可选)
针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片