SZ100纳米粒度/Zeta电位分析仪可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子（粒子直径、Zeta电位、分子量测定）*解析纳米粒子的物质结构。

SZ100纳米粒度/Zeta电位分析仪主要特点：

1.       将解析纳米尺寸重要的三要素（粒子直径、Zeta电位、分子量测定）的测定囊括于一身。

2.       从PPM顺序的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原状态下取样调查、测定。

3.       微小容量电泳电池：为独自研发，可以测定取样调查仅100μL的Zeta电位。

4.       适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用

5.       取样调查后，只要按测定开始按钮即可，操作简单。

Horiba SZ100粒子直径测定：

超宽动态测定有效范围：0.3nm~8000nm

通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。

在单一纳米粒子光学系统中，采用低角度90度光学系统。

广泛测定样品浓度范围

通过采用双重光学系统，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。

Horiba SZ100Zeta电位测定：通过安装标准的Horiba自主研发的微型样品池，可以测定仅100μL的样本。