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CIT-3000SMD（C） X荧光分析仪
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四川新先达测控技术有限公司是一家集产、学、研于一体的国家*和双软认证企业。公司创建于1998年，以成都理工大学、中国工程物理研究院和中国测试技术研究院为技术依托，专门从事核仪器仪表的研制、开发、生产和推广。公司拥有完备的研发生产场地和完善的生产检测设备，拥有核电子技术、自控技术、计算机软硬件、机械设计与制造的各类专业技术人员，拥有一支高素质的经营管理、市场开拓和优质服务队伍。我们专注于高分辨率的X射线能谱分析、高分辨率的γ能谱分析、高分辨率的α能谱分析,以及相关的核电子学部件的研发。经全体员工坚持不懈的努力，四川新先达测控技术有限公司已成为国内为数不多的研发和生产能量色散X荧光分析仪、低本底γ能谱仪、便携式γ能谱仪、核素识别仪、低本底α/β检测仪、分布式核检测系统、数字化能谱仪、测氡仪、α能谱仪、中子剂量仪等多种类型的核分析设备的专业化企业。并且可以提供关键零部件给相关的企业，是中国石油测井公司、中核集团北京原子能科学研究院、中国工程物理研究院物理化学所的*合作伙伴。
公司以技术、创新、可靠、耐用为宗旨，以及时、方便、过硬、满意的服务为己任，始终为国内外客户生产和提供Z满意的核分析设备而努力！
我们专心于核技术，专注于核技术应用，所以能提供专业的核技术服务！
详细信息
一、应用领域
有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。
二、性能特点：
♦ 样品平台自动升降，工作十分方便；
♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；
♦ 抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；
♦ CIT-3000SMD(C) X荧光分析仪*的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
♦ CIT-3000SMD(C) X荧光分析仪采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；
♦ 更*的Superfast SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。
三、仪器技术指标
（1）测量范围：1-40kev；
（2）可分析元素范围：Na-U；
（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；
（4）分辨率：±120Ev；
（5）低检出限：Pb≤5ppm；
（6）工作环境温度：0-40℃；
（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）
（8）测量时间：10-2550s（时间可调）
（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；
（10）额定功率：300W；
（11）探测器类型：更*的Superfast SDD探测器；
（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；
（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm
（14）样品腔尺寸：样品腔：300*300*100mm
（15）重量：约100Kg
