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NDA 200 X荧光光谱仪
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生产厂家纳优科技(北京)有限公司
专业从事X射线荧光分析(XRF)技术自主研究开发,XRF分析设备生产、销售的科技型企业;
公司的生产基地设立于江西,在深圳、苏州等地区设立有分支机构。
作为中国XRF分析技术领域*核心创新能力的研发团队,纳优科技的技术团队从1987年开始承担并圆满完成了三项中国政府XRF科技攻关项目---国家“七•五”科技攻关项目(EDXRF)、国家“九•五”科技攻关项目(WDXRF)、国家“十一•五”科技支撑项目(偏振二次靶EDXRF),
现在正在承担国家政府部门*XRF设备研发项目。
纳优科技的研发团队是中国XRF分析技术自主技术研发的*和*,曾获得*届中国科技大会奖、国家科技进步三等奖、部级科技进步二等奖等多项*及省部级奖励,拥有多项XRF分析技术相关的及多项软件著作权。
*以来,公司不仅注重于应用技术和产品的研发,也同样注重相关基础理论和基础分析方法的研究,通过不断的自主创新,保证了公司的技术水平与*水平同步。
NDA 200 X荧光光谱仪分析方法配置:
►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
► 经验系数法
► 理论α系数法
软件功能描述:
► RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素)
► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析
► 分析报告的自主定制与输出打印
► 分析结果的保存、查询及统计
► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
► 多层镀层厚度测量功能(选配)
NDA 200 X荧光光谱仪主要配置
►美国Si-PIN电制冷半导体探测器
►侧窗钼(Mo)靶管
►标配16组复合滤光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
►具备符合中国国家标准的样品混侧功能
►内置标准工作曲线
►配置On-line实时在线技术支持与服务平台
►具备开放工作曲线技术平台
►分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称:X荧光光谱仪
型号:NDA200
输入电压:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
环境温度:15-30℃
环境湿度:≤80%(不结露)
主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
主机重量:约60公斤
技术指标
元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
测量时间:
对聚合物材料,典型测量时间为200秒
对铜基体材料,典型测量时间为400秒
检出限指标(LOD):
对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:
对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
准确度指标,以系统偏差δ进行表征
对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg