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FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块
北京培科创新技术有限公司
北京培科创新技术有限公司是一家专注于科学研究领域及工业应用领域的仪器渠道商和系统解决方案提供商，我们为高校、科研院所、企业等各类客户提供全面的仪器设备解决方案。2012年公司注册成立于中关村科技园区，总部设在北京，在广州、武汉、沈阳、长春、甘肃、安徽等地设有多个办事处，能为客户提供及时、优质的售后服务体验。
培科创新，与多家世界仪器制造商建立了良好的战略合作关系，不断优化提升公司自身的营运和服务质量，致力于向用户提供*的产品、优化的解决方案和高品质的专业服务，承担着科技产业助推器的责任，服务并推动科学研究和科技产业的发展。
培科创新，秉承高度负责和诚信的原则展开业务，努力营造员工和客户之间互相尊重、坦诚沟通、高效互动的健康环境。我们了解客户的实际需求，并提供合理优质的解决方案，并尽力满足客户的近期和长期需求。培科创新在客户的关注和员工们的努力中不断进步，拥有遍布全国的营销渠道和服务网络、专业化的技术服务团队。
优秀的团队、科学的管理、高效的营运、便捷的信息网络、多年的行业经验和先进的经营理念，是我们服务于客户的基础和保证！
详细信息
市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法，两者在本质上是相通的，测量精度相近，频域技术是时域法的傅里叶变换的延伸。时域和频域技术在各种显微寿命成像平台中都有应用，时间相关单光子计数方法（TCSPC )是zei为常见的时域技术，而新兴的数字频域技术（FastFLIM™ )则取代了传统的模拟频域技术，凭借其独恃的优势成为应用zei广的频域技术。
美国ISS是jin有的能同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案的公司，其推出的FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块，可以让您现有的共聚焦显微镜拥有FLIM及FCS测试功能，可适配各种显微镜。
FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器，用于FLIM/FFS。
激光共聚焦自带的混合光子探测器（Hyd）可直接跟FastFLIM连接，用户FLIM/FFS
FastFLIM模块通过USB与电脑连接，可任意选配控制工作站。
FLIM荧光寿命成像及荧光波动光谱升级模块的优势：
Ø高效快速的数据采集模式（100% duty cycle）,几乎无死亡时间;
Ø光子计数动态范围大，线性度高，数据采集率可达每秒计数6x107；
Ø提供四个数据输入通道，
Ø同时对四个检测器进行并行数据采集；
Ø灵活度高，应用范围广
Ø100ps到100ms的无间断寿命测量；
Ø可接入多种模式触发信号与脉冲激光或其它测量设备同步；
Ø可输出多种模式触发信号来调控脉冲激光重复率或调制激光或同步其他测量设备
