Nanovea三维表面形貌轮廓仪ST400是一款多功能的三维形貌仪，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。
Nanovea三维表面形貌轮廓仪ST400特性
采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高
测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受样品反射率的影响
不受环境光的影响
测量简单，样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大：为27mm
主要技术参数
扫描范围：150mm×150mm(大可选600mm*600mm)
扫描步长：0.1μm
扫描速度：20mm/s
Z方向测量范围：27mm
方向测量分辨率：2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和*材料的研发。