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178-637-02DC 三丰SV-3200S4粗糙度轮廓度测量系统
- 型号
- 178-637-02DC
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苏州美方机电有限公司专业维修三丰量具量仪正打造的仪器销售商及服务商，为我们国内仪器企业提供精密的检测仪器，同时也是三丰Mitutoyo在中国的*商，我们汇聚世界*品牌，集聚一批管理销售人员，我们把世界较好的仪器带到中国来，为推动中国科技的发展架起桥梁而努力。
公司经营理念：
本质：好的品质是企业生存的前提
本色：特色经营是企业发展的动力
本性：社会责任是企业长远的保证
公司成立以来，一直遵循"服务创造价值"的经营宗旨。在坚持为客户提供优质价廉品牌产品的同时，更加注重产品的售前售中售后服务，现已培育出一批高素质的技术服务队伍，形成了完备的售后服务体系，为公司销售的产品提供了良好的售后服务，使客户买得放心用得放心。随着公司不断的发展，我们已与国内厂商建立了长期合作关系。我们相信，在今后的经营中，通过严格管理、周到细致的服务以及长期形成的良好信誉，"美方机电"一定会以更多的优质产品更优良的服务回报用户的厚爱，使"美方机电"永远成为您真诚的朋友和合作伙伴。
详细信息
三丰SV-3200S4粗糙度轮廓度测量系统
1.SV-C3200S4粗糙度轮廓度测量系统的系统：
检出器测力：0.75 mN
型号 | 主机规格 | ||
X1 轴测量范围 | 垂直移动 | 花岗岩基座尺寸 | |
SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
1-1.系统图
1-2.数据处理部
分析软件 |
| FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS |
2.的主机规格：
2-1.测量表面粗糙度时
适用标准：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
评价轮廓：基本曲线／粗糙度曲线／包络残余线／过滤波形曲线／带通波曲线／波纹度曲线／滚环波纹曲线／
粗糙度motif／波纹度motif／DIN4776
带专业控制器的高精度日本三丰高性能、袖珍型表面粗糙度测量仪，操作简单，显示一目了然。
Surftest (表面粗糙度测量仪) SJ-500, SV-2100 178 系列 — 带有控制 / 装置型表面粗糙度测量仪
带控制器的高精度，高性能， 袖珍型表面粗糙度测量仪，操作简 单，显示一目了然。
●配有7.5英寸彩色TFT液晶屏幕、大号彩色 图标与触控式面板控制，该显示装置操 作简单，读取容易。
●控制部的内置操纵杆使得定位快捷简 便。测量小孔内侧时可使用手动旋钮对 细小触针的位置进行微调。
●表面粗糙度测量条件的设置简单易行。 利用简单的输入功能可按ISO/JIS/ANSI/ VDA粗糙度标准计算绘图指令符号
三丰Mitutoyo表面粗糙度轮廓仪SV-2100M4 特点：
• 配备高可见度7.5 英寸TFT LCD 屏幕。彩色图标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单，读取容易。
• 轻松定位使用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。
• 表面粗糙度测量条件的设置简单易行。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。
评估能力：
适用标准:
JIS 82, JIS 94, JIS 01, ISO, ANSI, VDA
评估轮廓:
P (原始轮廓), R (表面粗糙度曲线), DIN4776, 粗糙度曲线motif
评价参数:
Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z, mr (c), Rpk, Rvk,δc, Rk, Mr1, Mr2,
Lo, Ppi, R, AR, Rx, A1, A2, Vo, HSC, mr,SK, Ku, Δa, Δq, Wte, Wx, W, AW (可定制)
Rz1max (ISO),Rmax (VDA, ANSI)
分析图表: ADC、BAC、功率谱图
评价曲线 断面曲线、粗糙度曲线、DF曲线、波纹曲线表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF线
解析图表 负荷曲线、振幅分布曲线
曲线补偿 抛物线、双曲线、圆锥、圆、二次曲线、倾斜补偿、无补偿
滤波类型 2CR, PC75, 高斯
截止波长 lc:0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm
ls: 0.25,0.8,2.5, 8, 25,80,250μm 无滤波器
lf:0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm 无滤波器
取样长度: 0.025,0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm;
三丰Mitutoyo表面粗糙度轮廓仪SV-2100M4技术资料：
| 型号 | SJ-500 | SV-2100M4*1 | SV-2100S4*1 | SV-2100H4*1 | SV-2100W4*1 | |
| 标准型 | (选件) | 手动操作 | 电动驱动 | |||
| 测量范围 | Z1 轴 (检出器) | 800µm, 80µm, 8µm | ||||
| X 轴 | 50mm | 100mm | ||||
| 直线度 | 0.2µm/50mm*2 | 0.15µm/100mm | ||||
| 分辨力 | X 轴 | 0.05µm | ||||
| Z1 轴 (检出器) | 0.01µm (800µm), 0.001µm (80µm), 0.0001µm (8µm) | |||||
| Z2 轴 (立柱) | — | — | 1µm | |||
| 驱动速度 | X 轴 | 0 - 20mm/s 或手动操作 | 0 - 40mm/s 或手动操作 | |||
| Z2 轴 (立柱) | — | 手动 | 0 - 20mm/s 或手动操作 | |||
| 测量速度 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0mm/s | |||||
| 上下移动量 | 连接装置: 30mm | 350mm | 350mm | 550mm | ||
| 评价轮廓 | 原始轮廓, 粗糙度轮廓, 波形轮廓, DF 轮廓, 粗糙度 motif 轮廓, 波形 motif 轮廓 | |||||
| 评价参数 | Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, m(rc), δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, ∆a, ∆q, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa,λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte | |||||
| 轮廓分析 | 阶差 (平均, 大, 小), 圆, 角度, 面积, 坐标值边缘, 倾斜角 | |||||
| 分析图表 | 负荷曲线 (BAC), 振幅分布曲线 (ADC), 功率谱图 | |||||
| 曲线补偿 | 抛物线补偿, 双曲线补偿, 椭圆补偿, 圆补偿, 锥面补偿, 倾斜补偿 (曲面/任意) | |||||
| 滤波 | 2CR75, PC75, 高斯鲁棒样条 | |||||
| 截至波长 | λs | 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80, 250µm, 无滤波 | ||||
| λc | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80*3 mm, 无滤波 | |||||
| λf | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80*3 mm, 无滤波 | |||||
| 取样长度 | ||||||
| LCD规格 | 7.5" 带背光的TFT液晶显示 | |||||
| 内置打印机 | 高速热敏打印机 (纸宽: 58mm) | |||||
| 记录放大 倍率 | 水平倍率 | 10X - 500,000X, 自动 | ||||
| 垂直倍率 | 0.5X - 10,000X, 自动 | |||||
| 检出器 | 检出方式 | 差动电感方式 | ||||
| 触针 & 测力 | 0.75mN 触针针尖 (锥): 针尖锥角: 60º, 针尖半径: 2µm4mN 触针针尖 (锥): 针尖锥角: 90º, 针尖半径: 5µm | |||||
| 电源 | 100 - 120V AC ±10%, 50/60Hz | |||||
| 功耗 | 75W | 75W | 145W | |||
| 外形尺寸 (W×D×H) | 主机 | 425×94×160 | 716×450×863 | 766×482×966 | 766×482×1166 | 1166×482×1176 |
| 演算显示部 | 330×270×94mm | |||||
| 电动装置 | — | — | 372×245×71.8mm | |||
| 重量 | 主机 | 2.7kg | 140kg | 150kg | 220kg | |
| 演算显示部 | 330×270×94mm | |||||
| 电动装置 | — | — | 372×245×71.8mm | |||
*1: 仪器本体的一部分采用天然石材，所以表面会有些花纹的情况。 注: 虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。
*2: 使用可选简易工作台时：0.4µm/50mm，使用可选手动柱形工作台时：0.3µm/50mm。
*3: SJ-500除外。 注: SJ-500的工作台为可选件。详情请参见L-15页
