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Nordson Dage Quadra 系列X射线检测系统
中级会员第6年
生产厂家公司自成立以来就一直专注于半导体、微组装和电子装配等领域的设备集成和技术服务;目前公司拥有一支在半导体制造、微组装及电子装配等领域经验丰富的专业技术团队,专业服务于混合电路、光电模块、MEMS、先进封装(TSV、Fan-out等)、化合物半导体、微波器件、功率器件、红外探测、声波器件、集成电路、分立器件、微纳等领域。我们不仅能为客户提供整套性能可靠的设备,还能根据客户的实际生产需求制订可行的工艺技术方案。
目前亚科电子已与众多微电子封装和半导体制造设备企业建立了良好的合作关系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),为向客户提供先进的设备和专业的技术服务打下了坚实基础。
Quadra 系列X射线检测系统的专li型QuadraNT 密封式X射线管技术,超越光学成像,可实现电子产品及元器件内部遮蔽区域的无损检测,zui高可放大68000倍。
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具有 0.95 µm 特征识别分辨率,基于X-Plane 图像分层技术,是用于PCBA 生产线质量控制的理想解决方案。
可检测 BGA 和 QFN元件焊接情况、焊接短路、通孔填充以及仿冒组件。 |
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Quadra 5 能够在具有挑战性的工艺过程中发挥出色表现。
0.35 µm 特征分辨率和高功率输出使其具备了 额外的高分辨率焊线、封装级检测和故障分析功能。 |
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| Quadra 7 具有0.1 µm 特征分辨率,可实现超高清图像,是市面上性能zui*的故障分析和生产质量控制X射线检测设备。
随着组件和电路板的尺寸越来越小,Quadra 7 可帮助您满足当前和未来的质量需求。 |
用于电子元件生产和大板应用的可靠X射线检测系统。
Jade FP XD7500VR Jade FP配备开放式透射型 X 射线管,是一种用于PCBA 生产质量控制的经济效益型设备。 |
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Ruby XL XD7800NT Ruby XL 的检测区域范围可达 96 x 67 cm (37.9” x 26.4”) ,是大板应用的理想解决方案。 0.5 µm 特征识别可实现PCB*质量控制、封装级检测和故障分析。 |
这些配件可以帮助您强化DAGE X射线检测系统的性能。
X-Plane® 无需额外的CT 硬件即可观察样本分层。X-Plane附加软件可以轻松方便的检视复杂的PCBA布局,如:双面板 、层叠封装结构,也可以检测焊接空洞。 |
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µCT计算机断层摄影
创建高分辨率的 3D模型和图像分层。µCT 可以清晰可靠地检测到微观特征和缺陷,是故障分析应用的理想选择。
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加热平台
Quadra X射线检测系统的加热平台可模拟回流焊炉条件和实时观察焊接工艺流程。 |
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Quadra
Quadra™ 3
Quadra™ 5
Quadra™ 7
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简单即标准
无需维修
Quadra 5 由多种配件组成,包括用于创建μm 级精度 3D 模型的μCT 镜台,以及用于重建回流焊炉条件,以便实时观察焊接工艺流程的恒温镜台。