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X-Strata920 一款来自牛津的膜厚仪X-Strata920
- 型号
- X-Strata920
我司是日立仪器中国区一级代理商。专业销售：镀层测厚仪、面铜测厚仪、孔铜测厚测试仪、ROHS分析仪等X射线分析仪器；是由一支具有多年X射线荧光分析仪器营销经验的团队组建，拥有中国区专业X射线荧光分析仪器的销售和维修服务团队，公司有充足的零配件库存，为广大客户提供及时有效的服务。公司下设仪器销售部、仪器售后服务部。公司团队多年来全心致力于X射线荧光分析仪器的销售与维护，客户为遍布全国各地的PCB电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀汽车及其配件、机械制造、矿山、造船等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等等
详细信息
一款来自牛津的膜厚仪X-Strata920
金镍测厚仪x-stara920特点：
可测元素：钛Ti22---铀U92间各元素；
可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；
测量时间约10秒，快速得出测量结果；
测量结果***到微英寸；
测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；
提供NIST认证的标准片；
享有的服务与支持。
金镍测厚仪x-stara920测厚范围：
取决于具体的应用。
金镍测厚仪x-stara920测量精度：
膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin
膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：一层±5%，第二层±10%，第二层±15%
一款来自牛津的膜厚仪X-Strata920可检测多层镀层元素的厚度，同时也可以分析镀层金属元素的成分。
日立&牛津 的测量和分析仪器广泛应用于各个领域，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供佳的解决方案，即从接触开始，不断沟通，直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合，为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。
