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JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜
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电力电子测试仪器、分析检测仪器，声学振动检测系统、无损探伤系统、系统集成定制
湖南艾克赛普测控科技有限公司（简称艾克赛普/Accexp）成立于2010年，是一家专注于电力电子测试仪器、振动声学测试系统、分析检测仪器设备和非标测控集成方案的高新技术仪器公司。公司具有10余年从业经验，拥有强大完善的研发技术团队和销售团队。同时，艾克赛普和国防科技大学、湖南大学、中南大学等相关研究机构紧密合作，是“长沙市科技创新小巨人企业”、“国家高新技术企业”及“开福区军民融合企业”。公司设有香港分公司、株洲办事处，具有仪器设备及技术进出口资质。
艾克赛普是Chroma、Fluke、HIOKI、NI、R&S、LeCroy、EA、PRODIGIT、Norsonic、PCB、B&K、LMS、Bruker、JEOL、同惠等品牌湖南区域授权代理及合作商，为众多客户提供了广泛的定制化测控集成方案。公司自主研发的Accexp自动测试系统软件基于Labview、Teststand，支持多种仪器设备硬件，通过随意搭配不同的配置来满足多种测试需求，用户可以根据自身测试需要搭积木式快速应用。
详细信息
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此，利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散，目前阻碍透射电镜分辨率进一步提高的大障碍。)，ASCOR和Cold-FEG的*组合实现了从高加速电压到低加速电压下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法，校正像差不需要交换标准样品也可以快速精确地校正至高阶像差。与采用传统校正算法的系统相比，JEOL CMSMO™能够高速处理数据，并且使操作进一步自动化。因此，客户在工作流程中可以简便高效地进行高分辨率观察及各种元素分析。
