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XDV-µ涂镀层厚度测量仪

型号
参数
产地类别:国产 价格区间:面议 应用领域:化工,石油,电子,冶金,制药
宁波旗辰仪器有限公司

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激光测径仪,激光测距仪,漆包线检测设备,金相实验设备,激光测平仪,激光对中仪,超声波测厚仪,管道检漏仪,盐雾试验箱,硬度计

宁波旗辰仪器有限公司主营产品:激光对中仪,激光测平仪,硅钢片铁损测试仪,声级计,建筑声学,激光测径仪,漆包线检测设备,金相实验设备,盐雾试验箱,各类硬度计,电阻炉,烘箱,水分计,熔点仪,密度计,推拉力计,试验机台,内窥镜,色差仪,标准光源箱,探伤机,工量具,电子天平,电子称,粘度计,激光测距仪,测温仪,气动量仪,拉拔仪,试验机,光谱仪,三座标等。

宁波旗辰仪器有限公司座落于宁波市北仑区长江大厦B1301室,毗邻沪杭甬高速公路,距深水良港 北仑港仅一步之遥。地理位置*,交通便利;是专业从事计量检测设备,环境试验设备等各类检测仪器的销售。主要涉及:无损测试、理化分析、量仪及光学类、力学类、长度类的检验/检测仪器设备、工量具等,销售产品近一千多种,为企业质量管理起着重要的作用及企业认证提供完善硬件设备。

主营产品:

环境监测设备:积分/统计/1/1OTC声级计,噪音计,分贝计,个人声暴露计,防爆声级计,声级计校准器,振动分析仪,建筑声学设备。

几何测量行业:激光对中仪,激光测平仪,风电行业轴对中,船舶设备,皮带轮对中仪,轴承故障检测。

工程检测设备:地下管线探测仪,油气管道防腐层探测仪,规避仪,巡线专家,工程鹰眼,井盖探测仪,高阻管线定位仪。

色彩类检测:色差仪、分光色差仪、便携式分光测色仪、台式分光测色仪、光泽度计、标准对色灯箱等。

行业类检测:埋地管道漏水检测仪、硅钢片铁损测试仪、磁通计、激光测径仪、漆包线检测仪器、圆度仪等、气动量仪。

厚度类检测:超声波测厚仪、涂层测厚仪、电镀多层电解测厚仪、超声波涂层测厚仪、进口测厚仪等。

硬度类检测:洛氏硬度计、维氏硬度计(显微硬度计)、里氏硬度计、布氏硬度计、邵氏橡胶硬度计、韦氏铝合金硬度计、巴氏硬度计、湿模砂型硬度计等。

环境类检测:盐雾试验机、高低温试验箱(恒温恒湿试验箱)、紫外线UV老化试验箱、氙灯老化试验箱、电磁振动试验台、模拟运输振动台、跌落试验机等。

力学类检测:万能材料拉力试验机、推拉力计、测试机台、扭力测试仪、弹簧拉压试验机、弹簧(卡簧/涡圈簧)扭转试验机、表盘/数显式扭力扳手等。

金相实验分析:金相镶嵌机、金相切割机、金相研磨机、金相抛光机、金相分析显微镜、金相耗材等。

无损测试类:粗糙度仪、测振仪、探伤仪、噪音声级计、黑白密度计、烘箱电阻炉、水分仪密度计等。

材质分析类:火花直读式全谱光谱仪、手持式XRF/台式X射线荧光光谱仪(合金成分元素分析,有害物质ROHS检测、镀层厚度测试)、红外碳硫分析仪等。

量测类仪器:二次元影像测量仪、光学投影仪、三次元三坐标、浮标/数显式气动量仪、激光测距仪、电子秤、分析天平、诺佳Noga磁力座表架、英示Insize量具、三丰Mitutoty量具、三和Shahe量具等。

竭诚期待与您的合作!


详细信息

XDV-µ涂镀层厚度测量仪

特点:

  • Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces
  • *多毛细管透镜,可将X射线聚集到极微小的测量面上
  • 现代化的硅漂移探测器(SDD),确保*的检测灵敏度
  • 可用于自动化测量的超大可编程样品平台
  • 为特殊应用而专门设计的仪器,包括:
    • XDV-μ LD,拥有较长的测量距离(至少12mm
    • XDV-μLEAD FRAME,特别为测量引线框架镀层如Au/Pd/Ni/CuFe等应用而优化
    • XDV-μ wafer,配备全自动晶圆承片台系统

XDV-µ涂镀层厚度测量仪应用:

镀层厚度测量

  • 测量未布元器件和已布元器件的印制线路板
  • 在纳米范围内测量复杂镀层系统,如引线框架上Au/Pd/Ni/CuFe的镀层厚度
  • 对大12英寸直径的晶圆进行全自动的质量监控
  • 在纳米范围内测量金属化层(凸块下金属化层,UBM
  • 遵循标准 DIN EN ISO 3497 ASTM B568

材料分析

  • 分析诸如Na等极轻元素
  • 分析铜柱上的无铅化焊帽
  • 分析半导体行业中C4或更小的焊料凸块以及微小的接触面
  • 镀层厚度测量

  • 测量未布元器件和已布元器件的印制线路板
  • 在纳米范围内测量复杂镀层系统,如引线框架上Au/Pd/Ni/CuFe的镀层厚度
  • 对大12英寸直径的晶圆进行全自动的质量监控
  • 在纳米范围内测量金属化层(凸块下金属化层,UBM
  • 遵循标准 DIN EN ISO 3497  ASTM B568
  • 材料分析

  • 分析诸如Na等极轻元素
  • 分析铜柱上的无铅化焊帽
  • 分析半导体行业中C4或更小的焊料凸块以及微小的接触面
  • 镀层厚度测量

  • 测量未布元器件和已布元器件的印制线路板
  • 在纳米范围内测量复杂镀层系统,如引线框架上Au/Pd/Ni/CuFe的镀层厚度
  • 对大12英寸直径的晶圆进行全自动的质量监控
  • 在纳米范围内测量金属化层(凸块下金属化层,UBM
  • 遵循标准 DIN EN ISO 3497  ASTM B568
  • 材料分析

  • 分析诸如Na等极轻元素
  • 分析铜柱上的无铅化焊帽
  • 分析半导体行业中C4或更小的焊料凸块以及微小的接触面
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产品参数

产地类别 国产
价格区间 面议
应用领域 化工,石油,电子,冶金,制药
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详询客服 : 0571-87858618
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