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起订量：
E3NC-S 日本欧姆龙OMRON智能激光传感器
- 型号
- E3NC-S
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上海伊里德自动化设备有限公司总部坐落在中国•上海自贸区，是一家集研制、设计、生产、销售于一体的专业制造型企业。现有员工110人，注册资金8400万元。公司自创建以来，以市场为导向，以服务为宗旨，求真务实、不断创新，形成以仪器、仪表、电气、阀门、电缆、桥架等成套生产规模。公司采用xian进的产品设计、制造及管理技术，主要从事“伊科（YK）”牌流量、液位、物位、压力、温度、校验、显示、记录仪表为主导产品的制造，以满足国内外仪表市场的需求。上海伊里德自动化设备有限公司已通过ISO9001质量管理体系认证、14001环境管理体系认证和18001职业健康管理体系认证，拥有多年从事自动化专业的技术人才，能为用户提供设计、生产、调试、培训服务。在自产自销国内仪表的同时并代理了日本、美国、德国、英国、意大利等多种进口仪表，如KROHNE、BD、WIKA、HYDAC、TESTO、OPTRIS、KAWAKI、YOKOGAWA、CKD、PARKER、ASCO、BANNER、JENCO、EXTECH、ELETTROCE、SETTEMA、RIKO、Asiantool、WEST等。品牌丰富，渠道正宗。为我国电力、石化、冶金等行业的工程自动化作出了贡献。秉承以人为本、竭诚为用户服务的宗旨，愿与海内外朋友共创伟业！
详细信息
日本欧姆龙OMRON智能激光传感器
即使工件颜色、材质、表面状态不同，也能以紧凑机身实现稳定检测
【稳定】【放心】
欧姆龙*HSDR-CMOS(High Seed and Dynamic Range)
动态范围50万倍
根据工件调整CMOS快门时间。
还能调整投光功率，实现扩散光摄取量的*化。
CMOS激光放大器
E3NC-SA
若是N-Smart，哪个放大器操作性都一样
【简单】
即使从远处也可清楚、可靠地确认
行业shou创！*清晰、识别性高的“白色显示”显示器
*截至2012年11月 本公司调查结果
【简单】【稳定】
除背景外可全部稳定检测
无工件调谐
将背景作为基准，检测基准外的所有部分。
可不受工件表面状态及倾斜的影响稳定检测，即使工件发生变化，也无需再设定。
【稳定】
防止杂散光导致的误动作
背景去除功能【PAT.P】
头部设置后调整简单！
一目了然的距离显示(*大致标准)
距离一目了然，调整简便。
设置头部后，可缩短工序切换后的调整时间及生产线设备停止时间。
日本欧姆龙OMRON智能激光传感器参数：
| 检测方式 | 距离设定型 | ||
|---|---|---|---|
| 项目 | 型号 | E3NC-SH250H | E3NC-SH100 |
| 光源(发光波长) *1 | 可视半导体激光(660nm) 100μＷ(JIS规格 2级、IEC/EN Class2、FDA Class2) | ||
| 测量范围 | 35～250mm(显示值：350～2500) | 35～100mm(显示值：350～1000) | |
| 标准检测台阶 *2 | 35～180mm： 9mm 180～250mm：25mm | 35～50mm：1.5mm 50～100mm：3mm | |
| 光点尺寸 *3 | 约1mm(距离250mm时) | 约0.5mm(距离100mm时) | |
| 使用环境照度 | 受光面照度 白炽灯 2,000lx以下 太阳光 4,000lx以下 | 受光面照度 白炽灯 4,000lx以下 太阳光 8,000lx以下 | |
| 环境温度范围 | 工作时：-10～+50℃、储存时：-25～+70℃(不结冰、凝露) | ||
| 环境湿度范围 | 工作时/储存时：各35～85%RH(不凝露) | ||
| 高度 | 2,000m以下 | ||
| 设置环境 | 污损度3(依据IEC60947-1) | ||
| 振动(耐久) | 10～55Hz 双振幅1.5mm X、Y、Z各方向 2h | ||
| 冲击(耐久) | 500m/s2 X、Y、Z各方向 3次 | ||
| 保护结构 | IEC标准 IP67 | ||
| 连接方式 | 接插件中继型(标准导线长2m) | ||
| 材质 | 外壳：聚对苯二甲酸丁二醇酯、镜头：异丁烯树脂、电缆：PVC | ||
| 重量(包装状态/仅主体) | 约125g/约75g | ||
| 附件 | 使用说明书 | ||
注. 对于反射率较高的物体，有时会因处于测量范围外而产生错误检测。
*1. 计划依照FDA标准的Laser Notice No.50规定，按EN60825-1的基准划分为Class1，并提交给CDRH。
*2. 在检测距离中心测量本公司标准检测物(白色陶瓷)。
*3. 光点尺寸：为测量范围的小直径值(实效值)，根据中心光强度的1/e2(13.5％)进行定义。
定义区域外存在漏光对象物体周围的反射率高于对象物体时，会出现错误检测。
另外，检测到比光点规格更小的工件时，可能无法获得正确的测量值。
以上内容可供参考，如有需求，详见：日本欧姆龙OMRON
