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HOMMEL T8000RC粗糙轮廓度仪

型号
参数
产地类别:进口 应用领域:电子
德瑞华测量技术(苏州)有限公司

中级会员10年 

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德瑞华测量技术(苏州)有限公司是长度类计量检测技术供应商,我们致力于提高工业产品的质量品质!

公司中国国内设有17个办事处,总部位于瑞士洛桑,由瑞士TRIMOS、WYLER、SYLVAC、KUNZ共同参与创建,同时整合欧美一些计量仪器品牌,有荷兰的IAC,德国的 WERTH、OPTACOM、JENOPTIK、JENA、LAMTECH、FEINMESS、ZETT MESS、F.S.G、CETA、OMT;英国的RPI、ABERLINK、BATY、BOWERS;意大利的ZERO、AFFRI、LTF;美国的 ZMIKE、HWK进入中国。如今,丹青公司在长度计量、校准领域代表着高精度和可靠性。这些覆盖整个计量、校准领域的产品系列可以为您几乎所有的计量、校准应用提供较好的解决方案。

公司为您解决实验室计量、检测、校准问题

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丹青公司应用领域涉及机械、电子、汽车、航空、航天、兵工等,拥有从工厂、研究所、计量站到国家*等广泛的用户。


凭借我们技术能力和丰富的知识储备,我们能够根据您的特殊要求为您量身定制校准、计量、检测设备。


我们的宗旨是:品质*、信誉*、用户至上、服务至上。

服务承诺

售前服务: 通过与客户的沟通,我们将认真分析用户对项目的实际需求,根据我们丰富的计量检测行业经验,为用户推荐、设计合理方案,保证我们提交的方案能较大限度地满足客户的需求,并具有高可靠性和适用性。



售中服务:公司将为用户提供技术咨询服务。


售后服务:自设备投入使用之日起,为用户提供一年的免费保修,接到用户维修要求后,24小时内给予完善回复,及时排除故障;因用户方原因损坏或其它不可抗力因素造成系统损坏,我方则不承担损失责任,但我方仍竭力维修,费用由甲方或其它责任方承担;在质量保证期后对设备的维护以视具体情况收取配件费、差旅费等;用户提出要求时,可委派专业技术人员到用户现场给予技术保驾;在设备全寿命服务中,为用户提供有关软件服务。









详细信息

 

霍梅尔T8000RC粗糙轮廓度仪zui大的特点是两个探测系统的智能化布置,所以组合测量非常*。粗糙度和轮廓通过两个单独的探测系统测定。

粗糙度测头通过套筒定位,甚至是一些难以达到的测量位置。轮廓测头的更换简单,必要时轮廓侧头和粗糙度测头可并行运行。

 

 

技术特点主要特点
?粗糙度和轮廓通用的测量系统?粗糙度测量和轮廓测量采用统一操作界面
?探测系统更换简单?能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征数据(90多个)
?在整个进给长度内部都可以测量粗糙度?可评价几何项目,如距离、角度和半径
?测头电动抬起/下降,所以测量流程自动?测量粗糙度、波纹度和轮廓度时的探测距离是120mm
?粗糙度测头既可与上面的套筒连接,也可安装在进给装置的下方?在一个测量报告内评价粗糙度和轮廓特征数据
 ?进给导轨的精度高,并配置了数字光栅尺,所以结果精确

 

wavecontour™digital轮廓探测系统,行程120mm,带数字探测系统

精密测量粗糙度,测头的选择范围大,可以满足不同的测量需求

 


 

霍梅尔-艾达米克T8000RC

 

选项供货范围

?通过电动倾斜单元和CNC软件实现完整的CNC功能

?VDA和戴姆勒奔驰公司标准的特殊参数

?螺纹纹路测量:测量粗糙度时可在切线方向进行旋转进给,螺旋纹路软件

?工件表面形貌测量:电动Y向定位台和软件HOMMEL MAP,用于3D特征数据的显示和评价

?经过认证的qs-STAT接口(AQDEF)。

?轮廓标准块KN8

?wavecontrol™basic操作面板

?仪器台GTR

 

?带22"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,轮廓测量评价软件

?具有自动保存功能的PDF打印机

?带自动探测功能的电动测量立柱wavelift™400

?带增量值光栅尺的进给装置waveline™120advanced

?进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5°

?带10mm T槽的硬岩石板

?TKU300/600测头一套,包含4个探针

?固定测头支架FHZ

?粗糙度标准块RNDH2

?wavecontour™digital或digiscan轮廓传感器,包含硬质合金探测头的测头臂

?用于紧固工件的测量台MT1 XYO(也可以不选)

?校准用附件一套

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

型号T8000RC digitalT8000RC digisacn
测量范围

R:±300μm or 600μm

 

C:60mm

R:±300μm or 600μm

 

C:60/90mm

zui小分辨率R:1nm or 2nm; C:50nmR:1nm or 2nm;C:50/75nm
测力设置手动电子
水平测量范围/水平分辨率120mm/0.1μm120mm/0.1μm
内/外探测-可选
测量立柱行程400mm400mm
硬岩石板780x500mm780x500mm
可拓展配置1000X500mm底座或800mm测量立柱  

 

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