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L系列 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列
- 型号
- L系列
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上海桑结实业有限公司（Sumche Shanghai）是国内的高科技仪器设备供应商，自成立以来与上各大仪器公司和品牌进行强强战略合作，致力于为用户提供高精度的分析检测仪器、环境模拟设备，以及配套的耗材、配件和优良的售后服务。公司目前是中国台湾铁木真科技股份有限公司在中国大陆地区的总代理，负责中国台湾铁木真全线产品在中国大陆地区的销售和服务。中国台湾金顿振动、跌落、冲击产品，德国贝莱克(Belec)直读光谱仪，以色列ScanMaster点焊探伤仪以及美国博曼(Bowman)X射线镀层测厚仪的区域总代理。这些产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域，并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。
桑结实业不仅拥有高品质的产品，更培养了专业的销售、技术和售后服务团队，并在国内拥有2个示范实验室，并拥有CNAS认证及实验室第三方认证资格，可为客户产品检测和设备考察提供服务和便利，旨在为客户提供更好的技术和*的解决方案，并提供持续而良好的售后服务，由此也获得了广大客户的信任与认可。
我们坚信，上海桑结永远是您可靠和信赖的伙伴；我们愿意，助用户事业飞翔，与用户共创未来。
详细信息
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列产品概述：
L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是*品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13"x10"。
标准配置包括一个4位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。 与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。 包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器。
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列
可满足以下类型用户的需求：
- 样品的长宽高分别超过12"但小于24"
- 需容纳多个样品进行自动化多点测量
- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目
- 符合IPC-4552A
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列产品参数：
类别 | 参数 |
元素测量范围： X射线管： 探测器： 分析层数及元素数： 滤波器/准直器： 焦距： 数字脉冲器： 计算机：
相机： 电源： 重量： 可编程XY平台： 样品仓尺寸： 外形尺寸： | 13号铝元素到92号铀元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦射线管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分析10种元素，成分分析至多可分析25种元素 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变焦 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz 110kg 平台尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10" 高度：280mm（11"），宽度：550mm（22"），深度：600mm（24"） 高度：750mm（30"），宽度：700mm（28"），深度：750mm（30"） |
关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和*的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。
