AM4115ZTL手持式半导体测量显微镜介绍：

AM4115ZTL半导体测量显微镜，配备新一代130万像素高清光学镜头的手持式显微镜，全视野高清显微画质显示，可拆卸式前罩，配备多种多用途的不同光学前罩，自带专业电脑软件，触摸式拍照录像，实际距离测量及绘图，数据导出并保存至Excel表中；具有偏光功能（适用于表面反光的物体检测）;长工作距离设计，不需要接触物体观察，适合半导体的检测。

AM4115ZTL手持式半导体测量显微镜参数：

型号：AM4115ZTL

接口类型：USB 2.0

分辨率：1280*1024dpi

像素：1.3MP

帧数：30fps

放大倍率：10X-140X

镜头：Color CMOS

微触按钮：可通过触摸拍照录影

光源：内置8颗白色LED灯

工作距离：30.5mm~234.5mm

偏光镜：有

测量功能：有

校正功能：有

产品规格：10.5cm (H) x 3.2cm (D)

产品重量：100（g）

包装尺寸：16cm (L) x 16cm (W) x 6cm (H)

保修期：一年

生产地：中国台湾

图片存储格式：DinoCapture2.0：BMP, GIF, PNG, MNG, TIF, TGA, PCX, WBMP, JP2, JPC, JPG, PGX, RAS, PNM

DinoXcope： PNG, JPEG

视频存储格式：DinoCapture2.0： WMV, FLV, SWF；DinoXcope： MOV

软件功能：支持拍照、摄像、定时抓拍等功能，可进行文字、图形标记，并可输出至Excel快速生成图表，可提供SDK进行二次开发

测量功能介绍：具有自动辅助寻边功能，可测量长,宽,点线距离，并且包括两点直线,连续线、多边形、半径圆、直径圆、三点圆、三点弧、三点角度、四点角度、两圆心距离、格线、圆心格线、十字线、十字刻度线、长度、角度、平均颜色换算等

操作系统：Windows10、8、7、Vista、XP；Mac OS 10.10或更高版本

标准配置：

软件光盘、软件使用说明书、PC材质校正片（精确0.1mm）、收纳袋、6个前罩

6个前罩分别是：

N3C-O开放式前罩：可在70X、175X接触聚焦观测                                                    

N3C-E延伸开放式前罩：可在200X接触聚焦观测                                                     

N3C-L长距离前罩：可在25X、45X等低倍数接触观测，前端可配其他前罩使用                                                                                                                               

N3C-C封闭式前罩：可进行液体观测，可保护内部镜头                                            

N3C-D柔光式前罩：可减少反射光线，使用与高反光的物体                               

N3C-S黑色半前罩：增加成像立体感，适合凹凸物体观测

AM4115ZTL半导体测量显微镜应用领域：

 广泛应用于学术研究、科研机构、农林业研究 产品质量检测和鉴定、刑事鉴定、珠宝文物鉴定修复、数码教学、生物实验、阅读辅助等领域,具体包括：PCB电子制造业、光电、SMT、连接器制造、电缆、光纤、汽车工业、模具行业、液晶检测、电镀行业、管道裂痕检测、印刷造纸业纺织纤维、玻璃陶瓷材料、珠宝文物鉴定、齿轮检测、焊接切割检查、皮革树脂、粉尘等检查

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