XCH12000微光斑X射线面密度测量仪

1、 应用微光斑检测实现很高的空间响应能力和分辨能力，测量更加精细敏感，给出数据可反映出极片上的裂缝，刮痕，斑点等小的瑕疵缺陷，可探测到极片上小1mm宽度的刮痕。
2、特殊的与微光斑相匹配的射线探测器： a.采用低吸收效率的材料的薄窗，提高X射线的窗透过率；b.改变电离室内极片排列结构，优化探测器电场；c.优选电离室内的充气介质，提高电离效率。在小光斑探测的条件下，经信噪比优化设计，并配合多种环境测量传感器补偿环境影响，修正测量结果。
3、优化软件算法：采用探测数据与运动控制模块拟合关联技术，应用数据重建算法，重现削薄区涂布轮廓，实现了片两侧边缘和首尾两端的削薄区轮廓测量，避免锂电池极片析锂现象。

XCH12000微光斑X射线面密度测量仪超小微光斑：采用长隧道高准直技术，X射线发生器输出6*6mm小尺寸矩形X射线光斑。并采取X光管长寿命稳定技术，改变管电流，加大X射线输出量。