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VLW-XXC-A1-C 美国奥林巴斯XRF合金光谱分析仪
- 型号
- VLW-XXC-A1-C
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深圳市易诺科技有限公司坐落于粤港澳大湾区-深圳市，于2004年进入便携无损分析行业，多年来一直专注于材料分析的应用与二次研发，在市场、用户、经验、服务等方面不断累积实力，贴近实际应用，成为国内具有规模和历史的XRF团队。
易诺科技是仪器设备厂商OLYMPUS NDT、ThermoFisher、HITACHI High-Tech 、SciAps、VELAINSTRUMENTS、I-CHEQ等厂商战略合作伙伴。
截至2024年，易诺科技已走过20年历史，我们已为国内、刚果金、菲律宾等上万家用户提供过系统性的材料分析解决方案，累计用户超过8000个，服务客户数十万次。我们将继续秉持初心，把易诺科技的服务和产品推向更多有需要的客户。
目前易诺科技拥有荧光光谱（XRF），X荧光能量色散(EDXRF)，激光诱导(LIBS)，气像色谱质谱(GC-MS)，测试测量（Test&Measuring)，运动控制，自动化在线分析等研究和应用。
易诺科技多年人才积累，打造了在国内规模的售后服务中心，在全国各地建有售后服务网点。易诺科技通过仪器厂商质量体系认证培训，在科学研究、元素比对、校正、售前咨询、技术服务等方面提供一站式服务解决方案。并且还在技术、推广、销售、培训、保养、维修、备件等板块提供支援， 在专业历史和系统化售后建设领域，易诺科技将在未来做得更好！
详细信息
一、OLYMPUS 新款VLW-XXC-A1-C手持式合金分析仪概述
OLYMPUS 新款VLW-XXC-A1-C手持式合金分析仪是对金属合金进行无损验证的一种快速有效的解决方案。在关键性的产品制造过程中，如果出现了材料混淆问题，可是一种不容乐观的事情。因此必须对来料进行检测，以确保材料达到质量控制和质量保证的要求。“信任但须验证”应该是每个制造商赖以成功的座右铭，因为这样做可以保障操作的安全，而我们的Vanta分析仪正是一款可以提供这种保障的已经得到验证的工具。仪器可以在短暂的1到2秒时间内，可以为以下材料提供合金化学成份和牌号辨别信息：
二、OLYMPUS 新款VLW-XXC-A1-C手持式合金分析仪“新功能”：
1.信息全面的牌号辨别：标准牌号库包括700多种*的合金的牌号。基于工业标准的残量“杂质”库，简化了牌号的匹配操作；
2.SmartSort可以实现非常高的检测量：在必要时自动延长检测轻元素的时间，还可以取消不必要的长时检测；
3.微点准直器：可选购的准直器有助于用户从背景材料中区别出材料的细小特征；
4.可选5百万像素全景摄像头：保存并归档被测表面的摄像记录。
三、OLYMPUS 新款VLW-XXC-A1-C手持式合金分析仪“参数指标”：
外型尺寸（宽 × 高 × 厚） | 8.3 × 28.9 × 24.2 cm |
|---|---|
| 重量 | 带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤。 |
| 激励源 | 4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳极材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。 M系列（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV C系列（Rh和W）：8 ～ 40 kV |
| 主光束过滤 | 每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器。 |
| 探测器 | M系列：大区域硅漂移探测器 C系列：硅漂移探测器 |
| 电源 | 可拆装的14.4 V锂离子电池或 18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 大70 W |
| 显示 | 800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制 |
| 操作环境 | 温度：–10 °C ～ 50 °C（带可选风扇时，可连续工作）。 湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。 |
| 坠落测试 | 通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试。 |
| IP评级 | IP55*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷。 |
| 压力校正 | 内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正。 |
| GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
| 操作系统 | Linux |
| 数据存储 | 4 GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量。 |
| USB | 两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。 一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。 |
| Wi-Fi | 通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。 |
| 蓝牙 | 通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能。 |
| 瞄准摄像头 | 全VGA CMOS摄像头 |
| 全景摄像头 | 5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜。 |
