黑白密度计的可测量范围为ISO光学密度（OD）0-6.00D。它拥有这么大的测量范围，使得它可以用在测量胶片，薄膜，底片基质的密度值。TBX1500能测定正负点之间的距离，TBX2000可以测定透明度和密度。这些测定出来的数据都可以通过USB上传和制作成电子表格。如果有特殊需求，可以加装一块过滤载片，用来独立测量光谱中客户感兴趣的一部分。TBX系列在所有功能中都可以显示与预存值不同的偏差。

黑白密度计

特点：

·柔软按键

·满足工业规格的*光学系统

·7.5英寸的长杆用来测量大尺寸的样品

·高精度的读数能够被重复调用

·可选的滤光板

·标准USB接口

·软件校准

·可开关的LED桌面背灯

·在测量金属镀膜底片时拥有出色性能

上海玖横仪器有限公司是一家专业从事仪器仪表研发、生产、销售及服务的企业。超声波探伤仪：（EPOCH 600超声探伤仪、EPOCH 6LT超声探伤仪、EPOCH 650超声探伤仪、EPOCH 1000超声探伤仪、USM 36超声探伤仪、USN 60超声探伤仪、USM go+超声探伤仪、Ominscan SX相控阵探伤仪、OmniScan MX2相控阵TOFD探伤仪，新款OmniScan MX3全聚焦相控阵超声波探伤仪）；超声波测厚仪：（27MG超声波测厚仪、45MG超声波测厚仪、38DL PLUS超声波测厚仪、DM5E超声波测厚仪、CL5超声波测厚仪、MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪，ETG-100电磁高温测厚仪）；超声波探头；定制相控阵探头；涡流探伤仪：（NORTEC 600涡流探伤仪）；硬度计；DR平板探测器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探测器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。内窥镜：（IPLEX NX奥林巴斯内窥镜、IPLEX GX/GT奥林巴斯内窥镜、IPLEX G Lite奥林巴斯内窥镜、IPLEX TX奥林巴斯内窥镜、IPLEX YS奥林巴斯内窥镜、XLGo+工业视频内窥镜GE、XL Detect+工业视频内窥镜GE新款、UVin专业紫外视频内窥镜、）；脉冲发生器：（DRP300替代奥林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析仪：(Vanta奥林巴斯手持式合金分析仪、DELTA Professional手持式合金分析仪奥林巴斯、DELTA Element手持式合金分析仪奥林巴斯)等仪器仪表