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德国WERTH TOMO 工业CT扫描仪
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经销商德瑞华测量技术(苏州)有限公司成立于2015年,是瑞士丹青科技有限公司、北京丹青瑞华科技有限公司的独资公司,是一家集销售、检测、校准、检验、技术咨询服务为一体的综合性第三方机构,在全国范围内为企业提供一站式解决方案。我们拥有*的恒温恒湿实验室,占地1000余平方米,具有德国Werth工业CT断层扫描测量机、瑞士TRIMOS LABC NANO测长机、德国Werth复合式三坐标、德国OPTACOM轮廓仪、奥地利EMCO-TEST硬度计等先进的设备以及专业的销售技术人员。
我们的核心服务可分为以下四类:
销售:您可以从德瑞华公司一站式采购所有几何量计量、校准、检测设备,包括:数显测高仪、万能测长机、螺纹综合测量机、量块比较仪、立式阿贝比长仪、球径测量仪、全自动表类检查仪、垂直度检测仪、直线度检测仪;复合式光学三坐标测量机、投影仪、三坐标测量机、叶片类多轴快速光学测量机; 非接触粗糙度(微观形貌)测量仪、台式轮廓粗糙度测量仪、便携式粗糙度检测仪;圆柱度仪;关节臂;精密转台;发动机缸体检测仪;轴类检测系统、凸轮轴曲轴检测系统、对刀仪、工业内窥镜、电子水平仪、气泡式水平仪、电子测倾传感器、电子角度仪;千分/百分表、数显卡尺、内/外径千分尺、现场用数显传输量具系列;洛氏、布氏、维氏、显微硬度计,标准硬度块等专用产品。
检定及校准:我们具有先进的几何量检定及校准设备,配备了经验丰富的技术人员,长度三大类、量块、环规、塞规、螺纹等的检定及校准我们都能满足。
检测:依托众多先进的进口设备,我们提供的各方位检测和验证服务,任何产品几何量检测问题,您都可以送至我们中心进行检测,而且本公司还与众多的先进设备供应商联网合作,如德国耶拿、瑞士TRIMOS、意大利AFFRI等,选择德瑞华,就是选择*,相信可以给你一个满意的结果。
技术咨询:凭借多年长期服务中国用户的经验以及技术储备,为您提供几乎所有的计量、校准应用好的解决方案,专业值得信赖。
我们的品牌:
瑞士TRIMOS、WYLER、SYLVAC、KUNZ;荷兰的IAC;德国的 WERTH、OPTACOM、JENOPTIK、JENA、LAMTECH、FEINMESS、ZETT MESS、F.S.G、CETA、OMT;英国的RPI、ABERLINK、BATY、BOWERS;意大利的ZERO、LTF;美国的 ZMIKE、HWK,奥地利的EMCO-TEST俱是当今计量行业的领xian者。
基于瑞士丹青科技有限公司遍布全国的服务网络和深厚的服务能力,我们用户遍布机械、电子、医疗、轨道交通、汽车、航空航天、兵工、研究所、高校、*等行业。德瑞华测量技术(苏州)有限公司力求立足长三角,服务全中国,希望通过不断地改善和创新,立志成为行业的。
Werth将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,可实现产品无损可视化准确测量,并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量,同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时,保证了高品质的要求。
德国WERTH TOMO工业CT扫描仪主要特点:
◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆ 可选配第二个Z轴,配置其他传感器(光学、探 针、光纤、激光等)
◆ Werth公司技术复合式传感器技术,进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座,保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统,确保实现zui 高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构,测量机*并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术,测量速度更快
◆ Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆ Werth公司技术的栅格断层扫描技术:
精密测量微小部件
扫描更大尺寸工件,提高分辨率
扩展测量范围
◆ 测量软件可快速3D重构,也可进行2D测量
◆ 测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析
◆ 选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准认证) ,界面友好,操作简单
◆ 可使用*拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆ 广泛应用于复杂尺寸测量,*评估,逆向工程,质量控制等
应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等。
德国WERTH TOMO工业CT扫描仪技术参数:
型号 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大测量工件尺寸(直径) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大测量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允许误差 (用CT传感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允许误差(E1:单轴精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空间精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射线源可选 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射线探测器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射线探测器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作台承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
电源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
气压 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
仪器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依据标准ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200, WFP测量或CT传感器选择同等及更高精度探针修正或光学传感器选用同等及更高精度探针修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射线穿透能力:
Werth*的用于高精度、高分辨率测量的穿透型标靶射线源。此标靶在高管电压(如300KV)和大管电流的情况下能够长时间稳定地保持微米级的焦点尺寸,这样就能用微米级焦点的X射线快速的高精度、高分辨率进行测量高密度(如钢)较大尺寸的零件。
类别 | TomoScope | ||||
射线源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
钢/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
铝 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
射线管 | 关 | 关 | 开 | 开 | 开 |
光源类型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
应用实例: