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首页>物理特性分析仪器>测厚仪>塑料薄膜片测厚仪

TOF-C2 * TOF-C 日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪

型号
TOF-C2 * TOF-C
参数
产地类别:进口 价格区间:面议 应用领域:文体,建材,印刷包装,纺织皮革,冶金
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详细信息

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪

厚度台式型离线型用于质量控制和检查


离线型厚度计是台式紧凑型厚度计。将薄膜或薄片切成条状并测量。主要特征是任何人都可以轻松,快速地进行测量,因为测量是在自动运输时执行的,并且不受测量者技能的影响。
它通常用于质量控制部门和研发应用程序。另外,由于测量图可以以环形显示,因此它们经常用于吹膜生产现场。

型号TOF-C2 * TOF-C的后续型号
测量方式非接触型/电容型
测量目标薄膜,例如拉伸膜,粘性保护膜,容易粘附灰尘的膜
测量原理电容式

产品特点

  • 高测量分辨率

  • 非常适合非接触型难以接触的薄膜

  • 即使在粗糙的表面上也可以测量

  • 基重测量

  • 操作简便(具有自动介电常数设定功能)

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C

产品规格

测量厚度5至500μm
测量长度10-10000毫米
测量间距1毫米〜
小显示值0.01微米
电源电压AC100V 50/60赫兹
工作温度范围5-40°C(测量期间温度变化在1°C以内)
湿度35-80%(无凝结)

产品特点

  • 高测量分辨率

  • 非常适合非接触型难以接触的薄膜

  • 即使在粗糙的表面上也可以测量

  • 基重测量

  • 操作简便(具有自动介电常数设

产品特点

  • 高测量分辨率

  • 非常适合非接触型难以接触的薄膜

  • 即使在粗糙的表面上也可以测量

  • 基重测量

  • 操作简便(具有自动介电常数设

产品特点

  • 高测量分辨率

  • 非常适合非接触型难以接触的薄膜

  • 即使在粗糙的表面上也可以测量

  • 基重测量

  • 操作简便(具有自动介电常数设

产品特点

  • 高测量分辨率

  • 非常适合非接触型难以接触的薄膜

  • 即使在粗糙的表面上也可以测量

  • 基重测量

  • 操作简便(具有自动介电常数设




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产品参数

产地类别 进口
价格区间 面议
应用领域 文体,建材,印刷包装,纺织皮革,冶金
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详询客服 : 0571-87858618
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