holmarc Electronic Speckle Pattern Interferometer电子散斑图案干涉仪（ESPI）是研究表面变形的一种非破坏性光学方法。它依赖于来自测试对象的漫反射光与参考光束之间的干涉，这是ling敏的干涉技术之一，因此我们可以测量平面内或平面外的亚微米级位移。变形前后的图像由CCD相机记录，并使用图像分析软件进行分析。变形会导致条纹图案发生变化，可以使用提供的软件来分析这些变化来发现变形。

由于此干涉仪对振动噪声高度敏感，因此霍尔马克的ESPI带有振动隔离光学面包板。使用输出功率为5mW的线偏振632.8nm He-Ne激光器作为光源。分束器将激光束分成两部分。透射光束通过空间滤光片组件均匀照射测试对象，而反射光束作为参考光束落在CCD上。照明的测试对象的图像由变焦镜头和CCD捕获。

我们的ESPI系统允许用户在同一系统中执行电子斑点剪切干涉测量，而不会干扰光学装置和对准。Holmarc的相机应用程序软件有助于捕获和分析图像。

实验范例

    使用电子散斑图案干涉仪（ESPI）观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形

    使用电子散斑切变干涉仪（ESSI）观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形

技术指标

    激光：He-Ne 5mW @ 632.8nm。

    扩束镜：带针孔的20X显微镜物镜。

    变焦镜头：尼康®

    相机：1 / 2.5“ 5 MPC MOS颜色

    软件：Holmarc相机应用软件和图像分析软件。

    光学面包板：1200mm x 900mm尺寸，带有隔振支架。

特征

    可以在可见光下进行测量

    非接触和全场测量

    物体轮廓和位移测量

holmarc Electronic Speckle Pattern Interferometer

此款产品不用于医疗，不用于临床使用，此产品仅用于科研使用。