英国abi-BM8500电路板故障检测仪简介：

英国ABI公司的BM8500是一款*的多功能且易于使用的电路板故障测试仪. 它提供了全面的电路板检测功能, 几乎含盖了任何类型的电路板的检测能力。

无论在电路板的设计验证, 生产测试, 半导体器件测试, 生产或是一般维修保养, 以及你的电路板是模拟还是数字的, 或是混合型的电路板,。

针对您所有的测试要求所提供的解决方案...

对于现今电子业界的快速变化，求新、求变的市场需求特性，无论是从事设计，生产，试验还是故障维修，都在向电子工程师提出各项的挑战。电子电路变得更快，更小，更便宜和更复杂。对测试和维修的成本效益也变得相对性的提高很多。因此，您的测试设备能否满足你的需求，而来应对这一连串爆发性的技术变革？如果了解到这个问题，说明你已在寻求解决方式的路上了。

尽管目前的电子技术日新月异，但其故障情形的基本性质仍是相同的：故障的集成电路(ICs) 会无法正常动作，故障的二极管会呈现开路或短路的状态，故障的电容器会呈现短路的故障现象。现今会造成电路板上故障的情况跟10年前的是相同的情形。但今天我们必须快速的找到这些故障点。 “高经济效益的维修工作” 的重心并不在于能不能修复电路板，而是在于需要花费多少的时间以及人力来修复一块电路板。

以经济学来说，维修费用也必需包括其测试设备。而BM8500电路板故障测试仪在其广泛的应用上具有相当高的成本效益。它包含了一个完整的高规格仪表控制软件，且易于工程师来操作使用。硬件是安装在一个包含PC的标准19寸机架式机箱中，而BM8500是一个模块化系统，因此可以为特定应用进行客制化的配置。

一、英国abi-BM8500电路板故障检测仪系统构成

1.系统硬件测试平台：（各个测试单元可根据测试需要扩充测试模块以达到需要的测试通道）

1)多电源数字集成电路测试单元（数字电路测试单元）：可扩充：2048路测试通道；

2)模拟集成电路测试单元（模拟器件测试单元）；

3)多功能仪表单元（八合一仪表单元）；

4)三维立体V-I-F动态阻抗测试单元（动态阻抗测试单元）可扩充：2048路测试通道；

5)可编程程控电源单元：可根据测试需要扩充电源通道

6)硬件测试框架；

2.可编辑软件测试平台：

1)非代码编程：测试流程管理，形成流程化、标准化、信息化的测试程序；

2)代码编程：自动化、半自动化电路板整板测试，实现电路板批量化测试、电路板生产检验测试、电路板一致性分析测试。

3.测试夹具：

1)测试夹具：日常手工测试所需要的夹具；

2)治具：电路板整板测试的测试工装（定制：包括：针床、接口板等）

（一）BM8500电路板故障测试仪系统硬件测试平台功能：

1.多电源数字集成电路测试单元（数字电路测试单元）：可扩充：2048路测试通道；单元由ABI-6500模块*1组成

1)64*1通道（可扩充至2048通道）

2)数字器件功能测试，管脚电压，管脚连接状态，温度拐点系数，数字V-I测试

3)高级逻辑时序发生器

4)电路板故障高级查找功能

5)短路追踪（通断测量）

6）未知型号器件的判别

2.模拟集成电路测试单元（模拟器件测试单元）单元由ABI-2500模块*1组成

1)模拟器件V-I曲线测试，矩阵测试；

2)24路测试通道，2通道探笔测试，2通道同步脉冲输出，3路分立器件测试通道；

3)各种器件的V-I, V-T, I-T曲线测试；

4)模拟集成电路及分立器件测试功能。

3.三维立体V-I-F动态阻抗测试单元（动态阻抗测试单元）可扩充：2048路测试通道；单元由ABI-3400模块*1组成

1)规格：64路测试通道+4路探棒测试+4组同步脉冲，可切换为32+32路测试模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲线测试；

3)矩阵测试:对所有管脚间的V-I（阻抗）曲线测试

4)在二维的图形上可显示该曲线各点的电气参数值(V/I)：电压、电流具体数值；

5)设备可以64通道为步进大扩充到2048路测试通道。

4.多功能仪表单元（八合一仪表单元）单元由ABI-6350模块*1组成

规格：集成8种常用测试仪器于一体；

1)3通道数字示波器；

2)2通道任意波形发生器；

3)2通道数字电压表；

4)1通道数字电流表；

5)1通道数字电阻表；

6)1通道频率计；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定输出电源。

5.可编程程控电源单元；单元由ABI-1200模块*1组成

规格：三路可调输出，可串并联；

通道*隔离；

每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

具备过压、过流保护

远端电压监测补偿功能

6.硬件测试框架

英国原产19英寸机架式含计算机（可以大安装六组模块）

（二）可编程软件测试平台功能

1.中英文软件，可通过编程软件对所有模块进行操作控制

2.具有测试流程记忆功能（软件具有强大的测试流程编辑和记录功能）

3.测试流程的制定贯穿整个测试过程，使电路测试过程形成标准的测试流程（维修流程、生产流程、 测试流程）。可以按照测试要求，保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程。保证了测试工艺的一致性，排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化、工艺化。

4.全面记录各种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的管脚电压、连接关系、功能测试结果等信息以及V-I和V-T曲线图都存储记录到测试流程中，方便随时与其他电路板进行对比，大大简化了测试中需要重复对比的工作。

5.软件在测试流程中允许用户加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等，提升了测试效率。

6.图形化测试库编辑器，图形化定义输入激励信号及测试记录输出的标准响应信号，快速建立元器件与电路板测试库，元器件与整板测试库扩充简单、快捷. 非专业人员可以快速扩充测试库。

7.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告可以包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户专有的测试报告，方便测试数据的保存。

8.*中文、英文测试操作软件，中文软件汉化到各级菜单（完整汉化版），提供免费终生软件的升级服务；

9.智能化编程，通过TFL编辑器，可对测试的每个步骤进行编程，TFL编辑器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21个编程命令。

（三）测试夹具功能

测试夹具附件，包括：DIL等各种器件测试夹具1套（日常手工测试所需要的夹具）；

治具需要定制服务：电路板整板测试的测试工装（包括：针床、接口板等）；

可选配件：SOIC测试夹具、离线测试盒、分立器件测试探笔套装等。

二、BM-8500电路板故障测试仪系统功能特点

1.*硬件系统模块化设计，可根据要求扩充测试模块和测试通道。

2.软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程。以后的测试就

3.按照流程步骤进行测试，得出相应的结果，并形成数据对比报告。测试流程的制定贯穿整个测试过程，并不断完善测试流程。实时将测试经验、测试信息扩充到测试流程工艺中。完成了流程化设计的电路板可以实现人工快速、半自动化故障排查及板级系统测试，提高排故和测试效率。

4.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户专有的测试报告，方便测试数据的保存。

5.*多电源数字电路测试模块具备64通道数字集成电路在线、离线功能测试（可扩充到2048通道），每个通道可以根据需要分别独立定义为：输入/电压测量、输出/信号驱动或V/I曲线测量；可进行自定义测试，器件与整板的自定义仿真测试。

6.*具备阈值电平临界点扫描测试功能，确定标准板电平临界值，可以检查故障板器件的稳定性。

7.系统可对各种器件进行端口测试： V-I、V-T、V-I-F测试.二维V-I测试低达1Hz频率，三维测试频率高达到10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。

8.变频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板，三维立体图形测量测量方式，适合数字及模拟集成电路与电路板的测试。

9.*系统各个模块在同一个专业平台操控下同时运行，完成流程化、步骤化、标准化测试并生成自定义测试报告。

10.*集成8种测试仪器于一体：3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、1通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源。8种常规测试仪器可以并发操作，所有步骤过程可以记录存储并可对比，所有测试数据可以量化，并可以形成测试报告，可对电路板进行仿真测试、调试测试、一致性测试等整板测试。

11.可编程程控电源模块具备3通道隔离电源输出，电源输出由系统软件来控制，三个通道可以支持串并联以增加电压和电流的输出范围。电源供应器模块可根据流程设计，自动开启和关闭测试所需的电源。电源配合其他模块使用，可实现整板测试与多电源测试的流程自动化。

12.多达上万种的数字器件测试库，测试器件库涵盖常用的器件。也可以通过图形化器件编辑器快速扩充与自定义器件测试库。可以通过图形化器件编辑器定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速批量建立元器件和整板测试库。

13.系统含有模拟器件测试库，可对放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应晶体管、光耦器件、AD和DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。 可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试等。

14.系统可对各种器件进行端口测试：V-I、V-T、I-T测试。测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试.

三、可选配件：