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Asteria系列光度计
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杭州光析科技有限公司位于被誉为“天堂硅谷”的杭州滨江国家高新技术开发区。公司专注于色度学、光谱学技术的应用和开发。
凭借多年积累的行业经验，我们有能力根据客户的应用需求，提供完善的、高性价比的整体测量解决方案。除了提供标准的测量设备，我们也有能力为客户提供定制化服务，比如软件定制，适合生产现场的测试系统定制等。
我们拥有广泛的色度计、光谱仪等测试测量仪器。专注于生产过程中在线颜色和光学测量，涵盖了大部分的测量原理和适用于当今苛刻的生产环境中。所有的产品都是按工业应用、坚固易集成等要求开发的。
我们的产品是创新的、稳定的、紧凑的、快速的、易用和坚固的，是为工业领域应用而开发的，结合了高速准确测量、坚固设计和低维护等特点。我们的全线产品几乎可以为所有的测量问题提供解决方案。
详细信息
基本参数
探测器 | 硅光二极管 |
光谱响应 | 接近CIE1931色度匹配曲线 |
测量参数 | 亮度,照度,Flicker, 响应时间 |
光学系统 | 接收角度5°(±2.5) |
测量光斑尺寸 | 12mm@50mm工作距离；19mm@100mm工作距离 |
测量速度 | 180,000次/秒.仪器内存可存储250,000个测量数据. |
长、宽、高 | 69x31x93mm (不含镜头部分) |
固定方式 | 仪器各面都有12xM3 螺孔 |
重量 | ~0.35kg |
测量参数
参数 | 范围 | 准确性 | 重复性 |
分辨率 | 15bit for X,Y and Z | >78dB | |
亮度(Y) | 0.002cd/m2-15000cd/m2 积分时间1ms-5s之间 | ±4%测量值 | Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 |
Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 | |||
Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 | |||
Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 | |||
测量速度 | 4-10次/秒(0.1cd/m2);10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); | ||
Flicker (contrast method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1% |
Flicker (Jeita method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1dB |
工作温度 | 10-35℃ | ||
