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ZK-TS-150L 高低温冷热冲击试验箱
- 型号
- ZK-TS-150L
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东莞中科测试设备有限公司主营：快速温变恒温恒湿试验箱，步入式环境试验箱，温湿度循环试验箱。是一家专业从事气候环境试验设备、机械环境试验设备、综合环境试验设备研发、设计、制造、售后为一体的科技型企业。中科测试设备以“环境模拟与可靠性测试”为研制动力，公司通过吸取欧美与日本等*技术与制造工艺，不断革新与升级自身技术制造工艺水平，研制出满足不同标准的冷热循环线性、高温高湿线性、高温中湿线性、高温低湿线性、低温中湿线性、低温低湿线性等恶劣气候环境试验箱。中科测试设备致力于为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的可靠性试验设备和行业性的解决方案，帮助用户与合作伙伴取得成功。
中科测试设备拥有一支专业的环境模拟与可靠性试验设备研制团队，平均从业经验15年以上，具备成熟的研发流程与制造工艺。专注为航空航天工业、国防研发、高校院所科研、电工电子、化工涂料、材料科学、智能手机、5G技术、光电通讯器件、新能源动力电池、太阳能光伏组件、OLED制造、芯片制备、汽车配套、半导体材料及元器件、医药卫生、生物科技等单位及企业提供符合ISO9001：2008、GB、GJB、IEC、ASTM、DIN、国家计量检测中心、华南计量检测中心认证合格的高低温试验箱、恒温恒湿箱、温度循环试验箱、湿热试验箱、温度交变试验箱、温度冲击试验箱、快速温变箱、PCT高压加速寿命老化箱、HAST高加速加压试验箱、温度低气压（高度）试验箱、防爆型高低温试验箱、氙灯辐射老化试验箱、紫外光辐射老化试验箱、工业精密烘箱、步入式高低温湿热试验箱、复合型盐雾腐蚀试验机、淋雨试验箱、砂尘试验箱、万能材料拉力试验机、电动式高频振动试验台、温度/湿度/振动三综合试验系统、温度/湿度/盐雾复合试验舱、温度/湿度/光照三综合试验室等环境模拟与可靠性试验设备和非标定制方案设备。
未来中科测试设备坚持走“匠心研制，服务用户”的经营理念，把中科测试设备打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备的杰出制造商，为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的环境模拟与可靠性试验设备及完善的售前、售后服务，为用户解决使用过程中的后顾之忧为己任。
中科理念：
诚信：建立信任与具有担当的合作关系。
专注：始终坚持以“环境模拟与可靠性测试”为研制方向。
责任：用心做好每一台设备，帮助用户与合作伙伴取得成功。
品质：匠心研制，打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备杰出制造商。
详细信息
高低温冷热冲击试验箱用途介绍
设备是通过高温储能槽与低温储能槽快速温度转换来实现对半导体、5纳米芯片、动力电池、电路主板、石墨烯屏幕、华为手机屏，iPhone触摸屏、watch在*温和极低温的环境中进行冷热交替膨胀和收缩试验，使产品中产生高温变应力和应变来发现潜存于产品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵提前曝露。避免产品在使用过程中受到环境应力的考验时而导致失效，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显著效果。
设备编程测试程序
1.CJ602S3I
(1)高温暴125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。
(2)高温150℃暴露30min，环境温度5min，低温-55℃暴露30min。
2.CJ602SII
(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。
(2)高温暴露 150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min。
(3)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。
3.CJ603S3I
(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。
(2)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。
4.CJ603S3II
(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。
(2)高温暴露150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min。
(3)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。
5.CJ605S3I
(1)高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min。
(2)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。
6.CJ605S3II
(1)高温150℃暴露30min，低温- 55℃暴露30min。
(2)高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min。
(3)高温125℃暴露30min，环境温度暴露5 min，低温-55℃暴露30min。
高低温冷热冲击试验箱满足测试标准及条件
1.GB/T2423.1-2001低温试验方法。
2.QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则。
3.满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。
4.SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式。
5.SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式。
6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989温度变化试验N。
7.GJB360.7-87温度冲击试验；GJB367.2-87 405温度冲击试验。
8.GJB150.3-86；GJB150.4-86；GJB150.5-86；GJB150.5-86温度冲击试验。
9.EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
10.GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；GB/T 2423.22-2002温度变化。
11.设备的型号和规格选择如下：
型 号 内箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-TS -80L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-120L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-TS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-TS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
可按需求尺寸非标定制......
