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WPA-NIR 红外应力双折射测量系统
- 型号
- WPA-NIR
白光共聚焦显微镜，应力双折射仪，无掩膜光刻机，内型面检测仪，微区取样仪
北京欧屹科技有限公司是以激光、光电仪器、电子封装设备为核心业务的专业代理经销商和服务商，欧屹科技主创成员具有20多年的技术和行业经验，我们为客户引进*的激光器、光电测量仪器、光电系统、电子封装设备等高精尖仪器设备,其中高功率半导体激光器，微光学透镜，划片机，Lasertec共聚焦显微镜，无掩膜光刻机，双折射应力仪尤其受到客户的赞许。另外，欧屹科技以专业的技术支持和完善的售后服务；用我们丰富贸易经验为广大用户提供*的支持和服务，免除客户的后顾之忧，我们的理念是踏踏实实做事，明明白白做人，以诚信立足，为客户创造价值。
详细信息
红外应力双折射测量系统主要特点：
硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。
红外波长的双折射/相位差面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
红外应力双折射测量系统主要功能：
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
测量数据的保存/读取简单快捷
全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等
丰富的图形创建功能
可以自由制作线图形和直方图
测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
主要参数：
实际测量对比：
