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PLD-MPCS2.0 电子半导体图像法清洁度分析仪
- 型号
- PLD-MPCS2.0
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PLDMC 普勒公司在范围内研发、生产、销售工业测量产品，并致力于提高生产质量、加强环境保护以及安全高效经济的工业测控。
PLDMC 普勒公司的主要客户群为世界各国的石油、化工、能源、民航、国防、铁路、机械等组织，以及各研究机构、监督商检、公用事业以及各种工业领域，其石油测量技术居于*地位。
随着普勒在中国服务的不断提升，能更好地为客户提供各类服务，并加强本土化运作的能力，普勒目前在西安航天城建有研发&生产基地。为中国及东南亚广大客户提供普洛帝*的测控技术，解决各类客户的测控难题！服务领域的优势能力：颗粒计数器，油液颗粒计数器，油液颗粒计数系统，颗粒度计数器，油液颗粒度分析仪，粘度分析仪，溶解氧，电导率，酸度计，闭口闪点，开口闪点，凝点，馏程，密度，残炭，铜片腐蚀，倾点，运动粘度，实际胶质,水分,银片腐蚀,雷德法饱和蒸气压,燃灯法硫含量,硫含量测定仪(管式炉法),机械杂质(重量法),氧化安定性(诱导期法),旋转氧弹法,抗乳化性,蒸发损失,(诺亚克法),锈蚀,破乳化值,灰分,泡沫倾向性,沸点,冰点,锥入度,针入度,滴点,水解安定性,密封适应性指数,热氧化安定性,铅含量(铬酸盐容量法),盐含量,色度,抗氨性能,光安定性,熔点(冷却曲线),沉淀物,空气释放值,曲轴箱模拟,万次剪切试,酸值、酸度,漏失量,抗水淋性能,防腐蚀性,平衡回流沸点,钢网分油(静态法),减压馏程，石油仪器，实验室设施
详细信息
电子半导体图像法清洁度分析仪简介：
电子半导体图像法清洁度分析仪是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；
观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；
电子半导体清洁度分析系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、图像测试 CCD 摄像头、三维立体载物平台、图像法颗粒分析系统软件、电脑、打印机等部分组成；为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。
产品优势：
测试软件具有审计追踪、权限管控、电子记录、测试标准、计量验证、报告模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；
全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；
将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；
专业软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；
数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；
R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；
颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；
引入3D遥感三维调控技术，快速定位，快速聚焦，体验极速无卡顿测试。
显示器及打印机输出分析结果；
直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；
避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；
现实NAS、ISO等标准方法的认可；
提供行业*的“OIL17服务星”签约式服务；
产品应用：
航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域；
对各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒（非连续相测试）。
执行标准：
0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率。
可根据客户要求，植入相应“图像法颗粒度”测试和评判标准。
技术参数：
产品型号：PLD-MPCS2.0
订制要求：各类液体检测要求；
测试范围: 1μm-500μm
放大倍数：40X～l000X倍
大分辨：0.1μm
显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）
重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）
数字摄像头(CCD)：500万~1800万像素
分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等
自动分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
软件运行环境：Windows 10
接口方式：RS232或USB方式
重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；
分 辨 率：>95%
售后服务：普洛帝中国服务中心/普研检测。
