日立X-MET8000 Smart 手持式荧光光谱仪 手持式XRF光谱仪 手持式荧光光谱仪

日立X-MET8000 Smart手持式荧光光谱仪(HHXRF)提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。日立X-MET8000 Smart手持式光谱仪方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。日立X-MET8000 Smart手持式光谱仪提供*的轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。

性能

通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。
操作简单
大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。
符合人体工学
X-MET8000轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度*低。
坚固耐用而拥有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。
通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。
其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

上等数据管理
*灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。

X-MET8000 Smart
X射线管：40kV
滤光片：单一
检测器：大面积 SDD
上限样本温度：400oC
符合 IP54 等级
Thick Kapton?窗口：保护以预防探测器的窗户损坏
校准：基本参数法(FP)

内置摄像头 （可选）

X-MET8000 Smart

• X射线管：40kV
• 滤光片：单一
• 检测器：大面积 SDD
• 上限样本温度：400ºC
• 符合 IP54 等级
• Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏
• 校准：基本参数法(FP)
• 内置摄像头 （可选）