波长色散扫描型X射线荧光光谱仪特点之一,  雄厚的技术背景
 特点之二, 的分辨率( 与能量色散仪器比较)
 特点之三, 的分辨率（与高档昂贵进口的波长色散仪器比较）
 特点之四, 操作简便、维护成本低，仪器轻便
 特点之五, 无标样分析软件FPM
 特点之六,  能分析粉末和水溶液 
 特点之七,  的技术指标
 特点之八,中国成功应用案例 
 石油中测硫方法和配套仪器                              
 ASTM D 2622-98, ASTM D 7039-04    波长色散型X射线荧光谱法 (WDX） 3ppm<  HIGHSKY 1800
  ISO 20847-2004                    能量色散型X射线荧光谱法 (EDX）   30ppm< HIGHSKY EDX-SL 
  
波长色散扫描型X射线荧光光谱仪主要特点                             
 实际定量检测下线为3ppm，很轻松的满足zei严格的波长色散的标准ASTM D 2622-98
 例：10ppm 标样，平行测量20次，标准偏差为0.68ppm，      两次平行测量zei大相差为1.6ppm，ASTM D 2622-98在10ppm含量时要求5ppm 
  HIGHSKY1200    (1200型光谱仪价格实惠，但是仅检测从 20Ca 到      92U 元素.为了满足钱少的客户在1200型仪器基础上加了两个能量色散通道，用户可    以任选两中轻元素，*于下列元素：Mg, Al, Si, P, S, Cl, K。
 一般选用S 和 Cl或者 S和P. 计量特性见下表：
 
 &#61557; X-射线荧光光谱仪的研制和基本参数法的理论研究工作开始于70-年代末80-年代初
 &#61557; 该工作由俄罗斯*的大学和国家研究所进行。但是主要创始人被认为是克利门特&bull;阿尼索维奇博士。
 &#61557; 经过多年的艰苦的探索，克利门特&bull;阿尼索维奇博士发明了高效X-射线光学系统并获得了相应。该系统技术参数在很大的程度上超过当今的X-射线光学系统。因此历史*使用低功率X-射线管，不用真空的小型X-射线荧光光谱仪在分析性能上能代替大型昂贵的仪器。
 &#61557; 10年多来，产品在不断的更新。配套软件不断地更新。