Surtronic DUO分体式粗糙度测量仪

 Surtronic DUO粗糙度仪是英国泰勒公司新型粗糙度仪，SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测Ra，Rz两种参数。DUO具有红外接口可在距离被测物1米处进行测量。

表面粗糙度基础：

每个组件表面都会有一些纹理形状因结构和制造方式而有所差异。这些表面可以划分为三个主要类别:粗糙度、波纹度和形状。为了控制制造过程或预测组件在使用过程中的行为，有必要使用表面纹理参数对表面特征进行量化。
表面纹理参数可分为三个基本类型:
振幅参数-测量表面偏差的垂直特征
间距参数-测量表面偏差的水平特征
混合参数-间距参数和振幅参数的组合
样本长度-轮廓会划分为样本长度|，它的长度足以容纳进行可靠的统计所需的数据量。对于粗糙度和波纹度分析，样本长度等于选择的截止长度。
截止长度(Lc) -截止长度是使用电子或数学方法移除或减少不必要的数据以查看重点区域的波长的滤波器。样本长度也称为截止长度。
测定长度-用于评估要测定轮廓的X轴方向的长度。测定长度可能包含-一个或多个样本长度。对于原始轮廓，测定长度等于样本长度。
标准一适用时，泰勒●霍普森设备会遵从ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他标准所规定的程序。

测量原理：

通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精密的机动驱动装置，确保行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应度的压电传感器能检测到它的垂直移动，然后将机械移动转化为电子信号。电子信号将进行数字化处理并发送到微处理器，然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度参数。