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HD- JX2008 电阻率及型号测试仪..
- 型号
- HD- JX2008
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详细信息
一 产品说明
电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。
三、 产品特点
1 仪器采用 220V 交流电源供电。
2 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。
3 拥有较高的电阻率测试分辨率，小可到 0.001 欧姆.厘米。
4 能精确的分辨电阻率在 0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。
5 独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。
6 适中的体积和便携性。
7 简单的操作，快速的测试。
8 低廉的价格，很高的性价比。
四、 参数指标
1 供电电源 220V±10% 50Hz AC
2 功耗<1w
3 主机尺寸 155×120×50mm
2 电阻率测试范围 0.001~50 欧姆.厘米
3 电阻率测试精度 ±5%±2LSB
一 产品说明
电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。
三、 产品特点
1 仪器采用 220V 交流电源供电。
2 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。
3 拥有较高的电阻率测试分辨率，小可到 0.001 欧姆.厘米。
4 能精确的分辨电阻率在 0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。
5 独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。
6 适中的体积和便携性。
7 简单的操作，快速的测试。
8 低廉的价格，很高的性价比。
四、 参数指标
1 供电电源 220V±10% 50Hz AC
2 功耗<1w
3 主机尺寸 155×120×50mm
2 电阻率测试范围 0.001~50 欧姆.厘米
3 电阻率测试精度 ±5%±2LSB
