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LZ-373双膜测厚仪日本凯特科学研究所
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详细信息
LZ-373双膜测厚仪日本凯特科学研究所
双膜测厚仪LZ-373
无损检测设备
它是一种紧凑且轻巧的紧凑型机身，可测量非磁性金属上绝缘膜的厚度，并且可以测量相对薄的厚度，例如铝矾土。
LZ-373是一种双类型膜厚计，可以测量磁性材料和非磁性金属上的膜厚。它是处理各种材料和各种涂层的领域合适的膜厚计。
LZ-373双膜测厚仪日本凯特科学研究所
特征
与传统的膜厚计相比，数据存储器和兼容标准有所增加。
它是双重类型。
这是一款袖珍型膜厚计，具有电磁和涡流测量功能。
配备有足够的功能作为膜厚计。
应用程序选择，基准校正，数据删除，数据存储器，上下限设置，统计计算（测量计数，平均值，标准偏差，大值，小值），显示选择，日期/时间，自动关闭时间，背光亮度可以根据需要设置16种功能，例如背光时间，单位，数据输出，自动批次分类，测量方法和维护模式。
应用程序存储器（校准曲线存储器）功能。
电磁型和涡流型各有50种，总共存储了100种已调整的应用程序（校准曲线），因此第二次即可进行相同的测量，而无需进行麻烦的调整。即使关闭电源，该存储器也不会被擦除。
紧凑轻巧的机身。
尺寸为宽75mm，长145mm，厚31mm，质量340g。由于尺寸可以一只手握住，因此可以轻松地在测量现场使用。
测量原理
电磁法（磁性金属上非磁性涂层的测量）
当交流电磁铁接近铁（磁性金属）时，进近距离会改变穿透线圈的磁通量，从而改变线圈两端的电压。从电流值读取该电压变化，并使用电磁膜厚计将其转换为膜厚，该膜厚计用于测量磁性金属上的非磁性涂层。
涡流法（非磁性金属上的绝缘膜的测定）
当具有恒定高频电流的线圈靠近金属时，金属表面会产生涡流。该涡电流根据线圈和金属表面之间的距离而改变，因此线圈两端的电压也改变。涡流型膜厚计从电流值中读取该变化并将其转换为膜厚，用于测量非磁性金属上的绝缘膜。
测量对象的适用
| 基础 | 测量膜 |
|---|---|
| 钢铁 | 铝，铜锡，铬，锌，衬里，搪瓷，橡胶树脂，漆，塑料等 |
| 铝，铜，黄铜等 | 树脂，清漆，搪瓷，塑料，橡胶，铝矾土（阳极氧化膜），涂料等。 |
屏幕显示
经常问的问题
可以测量镀膜吗？
规范
| 测量方式 | 电磁感应式/涡流式 |
|---|---|
| 被测物 | 磁性金属上的非 磁性涂层 磁性金属上的绝缘涂层 |
| 测量范围 | 电磁感应类型：0至2500μm或99.0密耳 涡流类型：0至1200μm或47.0密耳 |
| 测量精度 | 小于50μm：±1μm，50μm或以上但小于1000μm：±2％ 1000μm或以上：±3％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm |
| 符合标准 | 电磁感应类型：JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401，ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 涡流类型：JIS K5600-1-7，JIS H8680-2，JIS H8501，ISO 2808，ISO 2360，ISO 2064，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 数据存储器数 | 约39,000点 |
| 校准曲线记忆 | 应用存储器：50电磁感应型，50涡流型 |
| 附加功能 | 应用程序选择，基础校正，数据删除，数据存储器，上下限设置，统计计算（测量计数，平均值，标准偏差，大值，小值），显示选择，日期/时间，自动关闭时间，背光亮度，背光时间，单位，数据输出，自动批次分类，测量方法，维护方式 |
| 探测 | 单点接触恒压型（LEP-J，LHP-J） |
| 显示方式 | 数字（背光LCD 128 x 64点，小显示位数0.1μm） |
| 外部输出 | 可以输出到PC（USB或RS-232C） |
| 电源供应 | 电池1.5V（AA碱性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光关闭时） |
| 电池寿命 | 100小时（无背光，连续使用） |
| 工作环境温度 | 0-40°摄氏度 |
| 尺寸/质量 | 75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34千克 |
零件
- 身体
- 标准板x 5（50μm，100μm，300μm，500μm，1000μm）
- 零板支架（铁基/非铁基）
- 铁探针（LEP-J）
- NFe探针（LHP-J）
- 探头适配器
- 数据管理软件（CD-R）
- PC电缆（RS-232C）
- RS-232C USB转换器
- 储物箱
- 说明书
