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PN-12α 日本napson热电动势接触式PN探测器
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日本napson热电动势接触式PN探测器
产品名称:PN-12α
样品的导电类型(PN)通过将其与笔型探头(热/冷探头集成型)接触来确定
兼容单晶硅晶片,块和锭
*对于难以使用集成探头判断的样品,您还可以选择热/冷探头/分离类型。
测量对象
与半导体/太阳能电池材料有关(硅,多晶硅,SiC等)
测量尺寸
30x30mm以上
测量范围
可用于PN测定的样品电阻率范围:1 m至20kΩ·cm
*不能部分确定多晶硅,带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品
产品名称:PN-12α
样品的导电类型(PN)通过将其与笔型探头(热/冷探头集成型)接触来确定
兼容单晶硅晶片,块和锭
*对于难以使用集成探头判断的样品,您还可以选择热/冷探头/分离类型。
测量对象
与半导体/太阳能电池材料有关(硅,多晶硅,SiC等)
测量尺寸
30x30mm以上
测量范围
可用于PN测定的样品电阻率范围:1 m至20kΩ·cm
*不能部分确定多晶硅,带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品
日本napson热电动势接触式PN探测器