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DSC-100A 氧化诱导期分析仪
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生产厂家郑州明研仪器仪表有限公司是一家专业的分析仪器生产商,推出自有品牌产品有:差示扫描量热仪、紫外分光光度计、旋光仪、熔点仪、折光仪。明研公司有一支经验丰富的分析仪器技术团队为广大用户提供售前、售后服务,以确保客户买的放心,用的安心,售后无忧。在热分析、颗粒分析、材料分析、制药分析等多领域都有超过10年技术支持经验的人员为客户提供技术服务。根据客户的应用领域与研发方向提供有价值的分析仪器设备一直是我们不变的初心,我们也以此赢得了与客户共同发展的机遇,成就了郑州明研仪器在业内的“专业技术服务商”的地位,我们将自始至终践行我们的口号:明研仪器,面向明天,面向未来,携手推进企业科研成就!请相信我们在分析仪器领域的专业性以及良好的售前售后技术服务能力!
氧化诱导期分析仪内嵌触摸式微电脑,无需外接电脑,一键式操作,自动生成氧化诱导期图谱,自动打印测试结果。实验结束仪器蜂鸣提示,过程无需人员看管,简单高效。
氧化诱导期分析仪采用差热分析法或差示扫描量热法可以简单快速测量电缆绝缘和护套材料的氧化诱导期,因此应用十分普遍。目前国内外都有相应标准试验方法加以规定。但在实际测试中,OIT的数据结果重复性不好。同一种材料测得的数据分散性往往超出了正常的试验允许误差范围。因此测试条件的正确选择非常重要。
氧化诱导期分析仪仪器因素
氧化诱导期分析仪用于无机和非金属材料分析,此时气体能直接从试样旁流过,较好地实现了气体氛围的转换。而采用平顶石英罩管时,由于气体的进出口都在样品杆下方,位于样品杆上方试样周围的气体无法迅速*置换,从而带来很大的试验误差。
OIT的测量是指样品在某一固定温度下,从接触氧气的一瞬间开始计时,至材料发生氧化反应大量放热所经历的时间长短。在炉体的冷却水或进出水口方向接错,都会使得冷端温度高于补偿电路中铜电阻的温度(室温),从而影响温度的准确测量,直接导致试验误差。
氧化诱导期分析仪在长期使用过程中,热电偶测量端遭到试样逸出物污染、补偿电路中铜电阻的老化等因素都会造成热电偶测温准确性的下降,温度值漂移。因此需定期采用标准样品(铟、锡)来标定热电偶,以保证测温的准确。
氧化诱导期分析仪主要特点:
1.操作简单,无需任何检测经验 ,只需少量培训
2.无需外接电脑,便可完成整个实验
3.双温度探头,确保高精度和重复性
4.实验过程,无需人员看管
5.实验结束蜂鸣提醒、数据自动保存
6.七寸大屏幕液晶显示,图谱、曲线一目了然
7.自动升温、自动换气、自动出结果
氧化诱导期分析仪技术参数
DSC量程 | 0~±200mW | 温度范围 | 室温~500℃ | |
升温速率 | 0.1~50℃/min | 温度分辨率 | 0.01℃ | |
温度精度 | ±0.1℃ | 温度重复性 | ±0.1℃ | |
DSC精度 | ±2% | DSC分辨率 | 0.001mW | |
DSC解析度 | 0.001mW | 控温方式 | 全程自动控制 | |
曲线扫描 | 升温扫描 | 气氛控制 | 气体质量流量计 | |
显示方式 | 24bit色,7寸触摸屏 | 工作电源 | AC220V 50Hz/60Hz | |
尺寸(w*d*h) | 42*38*27cm | 净 重 | 14.5KG | |
包装尺寸(w*d*h) | 58*45*40cm | 毛 重 | 20KG | |
电脑配置要求 |
至低硬件配置
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至低软件配置
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应用领域
专为塑料、橡胶行业测量氧化诱导期设计,氧化诱导期热稳定实验适用于国标GB/T17391-1998,GB/T2951.42-2008,GB/T15065-2009,GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004
仪器原理
差示扫描量热法( Differential scanning calorimetry)是在程序温度控制下,测量物质与参比物之间的功率差随温度变化的一种技术。DSC-100A型差示扫描量热仪主要由加热炉、主机、微伏放大器、A/D转换器、数据采集系统、气体流量控制系统、计算机、打印机等部件组成,并辅之以两路气氛的切换,测量结果由计算机数据处理系统处理。