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SURFCOM CREST DX 东京精密表面粗糙度·轮廓形状综合测量机
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- SURFCOM CREST DX
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“以规矩为方圆则成，以尺寸量长短则得”。——管子
苏州市方圆计量仪器有限公司（简称“方圆量仪”），成立于二零零五年，坐落于中新合作苏州新加坡工业园区，毗邻美丽的阳澄湖，公司致力于推广和销售各类计量检测仪器和实验室设备，为航空航天、轨道交通、汽车、电子、核电、光伏、科研、模具、装备制造及3C等产业提供一站式测量解决方案。
公司主要销售的产品如下：
各类检测仪器和实验设备： 三坐标测量机，影像测量仪，三维光学扫描仪，光学轴类测量仪、光学投影仪、影像测量仪、工具显微镜，粗糙度仪、轮廓仪，圆度圆柱度仪，数显测高仪，万能测长仪，螺纹测量仪，激光跟踪仪，激光干涉仪，气动量仪工作站，齿轮测量中心，齿轮啮合仪，通用量具、各种硬度试验机、精密烘箱、电子天平、扫描电子显微镜、金相显微镜、光谱分析仪、X射线荧光光谱仪（XRF）、激光粒度仪，弹簧试验机，万能材料试验机、金相设备等。
主要代理品牌有：日本东京精密ACCRTECH、日本日立仪器、日本大阪精密OSAKA、荷兰轶诺INNOVATEST、美国施泰力Starrett、美国爱佩仪API、意大利马波斯Marposs、瑞士TRIMOS、日本三丰Mitutoyo、日本亲和SHINWA、德国徕卡Leica、德国菲希尔Fischer、英国艾德姆ADAM、日本爱斯佩克ESPEC、、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、深圳中图等。
本公司自2005年成立以来，一直遵循：“服务创造价值”的经营理念。公司设有大型仪器展厅，可以为客户提供测件，演示，培训，维修，校准等一系列服务。公司在坚持为客户提供优质产品的同时，更加注重产品的售前售中售后服务，现已培育出一支高素质的技术服务团队，为公司销售的产品提供了良好的技术服务保障，让客户没有后顾之忧。
详细信息
东京精密表面粗糙度·轮廓形状综合测量机
高稳定倍光路型激光干涉传感器
●应用東京精密的要素技术之一的光纤激光干涉测长系统，开发出分辨率0.31nm的高稳定倍光路型激光干涉传感器并搭载在产品上。
●动态量程与分辨率之比高达42,000,000 ：1，一次跟踪即可评价大范围的轮廓形状及其隐藏在形状下面的微细表面形状，是一款划时代的产品。
东京精密表面粗糙度·轮廓形状综合测量机
在驱动部搭载线性马达
●凭借线性马达驱动，实现了高精度·高速移动。
●电子低振动化稳定，可以实现高倍率测定。
只需一次测量即可进行粗糙度和轮廓的分析
●可在保持高精度的同时提高测量效率。大量程
●横向200mm，纵向13mm，测量范围大。
●可±45°自动控制驱动部倾斜（SURFCOM CREST-T型号）
规格
项 目 SURFCOM CREST 测量范围 Z轴（纵向） 13 mm/50 mm 测臂、 26 mm/100 mm 测臂 X 轴（横向） 200 mm 行程 立柱 500 mm 精度 Z 轴指示精度（纵向） ±0.2+IHI/1000 μm （H ：测量高度 mm）测量分辨率 0.31 nm/50 mm 测臂 X 轴指示精度（横向） ±0.2+L/1000 μm （L ：测量长度 mm）测量分辨率 0.54 nm 直线度精度※1 0.05+3 L/10000 μm （L ：测量长度 mm）系统精度※1 系统噪音※2 Ra ≦ 2 nm / 0.4 mm Rz ≦ 10 nm /0.4 mm 球头形状誤差※3 Pt ≦ 0.1 μm （φ30 mm以下）半径测量的大允许误差※4 ≦± 1.0 μm （φ30 mm以下）长度测量的大允许误差※5 ≦± (1+L/150) μm （L ：测量长度 mm）角度测量的大允许误差※6 ≦± 0.5 min （±45度倾斜）感应方式 Z 轴（纵向） 高稳定倍光路型激光干涉测长传感器 X 轴（横向） 衍射光栅尺速度立柱上下速度（Z 轴） ～ 200 mm/s 驱动部 测量速度（X 轴） 0.03 mm/s ～ 3 mm/s（粗糙度测量时）、0.03 mm/s ～ 20 mm/s（ 轮廓测量时）驱动部 移动速度（X 轴） 0.02 mm/s ～ 60 mm/s 驱动部倾斜 ±45° （T型号）传感器测针 交换式测量力 0.75 mN 测针半径 2 μmR 标准配件（ 50 mm 测臂）测针材质 金刚石功能 收缩功能参数电源 电压、频率 单相AC100 ～ 240 V ±10 %、 50/60 Hz 气源 供给压力0.45 ～ 0.7MPa、使用压力 0.4 MPa、消耗量8 L/mm（大）外形尺寸（W x D x H） 1405 mm×1050 mm×1851 mm 质量 700 kg
