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LE-200J 日本进口kett电磁膜厚计
- 型号
- LE-200J
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详细信息
日本进口kett电磁膜厚计
- 内置打印机的电磁膜测厚仪的鼎级型号
- 测量范围0-1500μm
- 小于15μm的测量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
- 数据存储1500点，统计计算功能
主要规格
| 测量方式 | 电磁感应式 |
|---|---|
| 测量目标 | 磁性金属上的非磁性涂层 |
| 测量范围 | 0-1500μm或60.00密耳 |
| 测量精度 | 小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm |
| 符合标准 | JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 统计功能 | 测量次数，平均值，标准偏差，大值，小值，程序段号 |
| 探测 | 单点接触恒压型（LEP-J） |
| 显示方式 | 数字（LCD，小显示位数0.1μm） |
| 外部输出 | RS-232C接口（传输速度2400bps） |
| 电源供应 | AC100V（50 / 60Hz）或电池1.5V（AA碱性）主机x 6，打印机x 4 |
| 尺寸/质量 | 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤 |
| 配件 | 标准板，铁座，标准板盒，电池1.5V（AA碱性），AC适配器，探针适配器，打印机纸，手提箱 |
| 选项 | L型探头（LEP-21L），RS-232C连接电缆，数据管理软件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp” |
日本进口kett电磁膜厚计
