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iEDX-150T 贵金属镀层膜厚仪
- 型号
- iEDX-150T
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镀层厚度分析设备，X射线管，镀层膜厚标准片，等等。
广州鸿熙电子科技有限公司于2013年成立，位于珠三角交通枢纽广州市增城区新塘镇的TOD商圈，临近地铁十三号线新塘站口和白江站，交通便利。
公司专业从事X射线管、镀层、元素含量标准件、镀层和元素含量类X射线仪器及科学研究实验室仪器设备的销售和服务，并有专业工程师可为客户提供专业的实验室配套解决方案。公司拥有自主设计的X射线管解决方案，是美国Calmetrics标准件在中国的代理商，是韩国ISP亚太区总代理。可为客户提供优质、快捷的专业服务。
详细信息
在现代工业中，镀层膜厚仪已成为一种精密测量工具。它广泛应用于各种领域，如半导体、高分子材料薄膜、汽车玻璃、光学镀膜测量等，为各个行业提供了准确可靠的膜厚测量数据。本文将详细介绍镀层膜厚仪的工作原理、使用方法以及其在各个领域的应用。
一、产品概述
产品类型：能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称：镀层厚度测试仪
型 号：iEDX-150T
生 产 商：韩国ISP公司
| 工作条件 | |
| ●工作温度：15-30℃ | ●电源：AC: 110/220VAC 50-60Hz |
| ●相对湿度：<70%，无结露 | ●功率：150W + 550W |
产品图片：
镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试iEDX-150T
二、产品优势及特征
镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试
(一)产品优势
镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性可控制在+/-5%内。
仪器尺寸：618*525*490mm，样品台移动距离：160*150*90mm。
激光定位和自动多点测量功能。
可检测固体、粉末状态材料。
运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。
可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。
操作简单、易学易懂、**无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。
可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
软件*升级。
无损检测，一次性购买标样可**使用。
使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供***保姆式服务。
可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。
可进行RoHS检测(选配功能)，测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。
(二)产品特征
高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行**的镀层厚度分析，可以增加RoHS检测功能。
MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Smart-Ray. 金属行业**定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%，贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
三、产品配置及技术指标说明
| u 测量原理：能量色散X射线分析 | u 样品类型：固体/粉末 |
| u X射线光管：50KV，1mA | u过滤器：5过滤器自动转换 |
| u检测系统：SDD探测器（或Si-Pin） | u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV） |
| u检测元素范围：Al (13) ~ U(92) | u准直器孔径：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选) |
| u应用程序语言：韩／英／中 | u分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光 |
| u仪器尺寸：618*525*490mm | u样品台移动距离（自动台）：160*150*90mm |
| u样品台尺寸：250*225mm |
|
X射线管：高稳定性X光光管，使用寿命(工作时间>18,000小时)
微焦点X射线管、Mo (钼) 靶铍窗口， 阳极焦斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。
50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供**性能。
探测器：SDD 探测器(可选Si-Pin)
能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
滤光片/可选
初级滤光片：Al滤光片，自动切换
7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
平台：软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线：
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统：高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围：3mm x 3mm
- 放大倍数：40X
- 照明方法：上照式 镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试
- 软件控制取得高真图像
8. 计算机、打印机(赠送)
含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
含Win 7/Win 10系统。
Multi-Ray镀层分析软件
注：设备需要配备稳压器，需另计。
镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试
