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中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计
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公司代理经销的产品都是通过多年*经验,精选市场上被客户广泛认可、具有高性价比的产品;并与产品厂家建立了良好的合作关系,保证产品的服务,让客户无后顾之忧。
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中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计
MD100N 显示器光学测量及检验方案
桌上型MD100N色彩亮度检测专家,实现新型显示器追求高对比度与色彩的优异表现。优异的光学分光技术及电子信号处理技术能取代Colormeter量测准度不足之问题。另外,MD100N分光式辉度计提供全面计算机分析软件(uSpectrum/uFlicker),用户可客制量测列表及进行大数据量测的分析,简化工作流程及加速作业时间。
桌上型辉度计-MD100N可以准确、简易测量显示面板光源亮度及色度值。关键参数包含亮度,CIE xy,Yxy,u’/ v’,GAMMA校正,白平衡调整等。整体量测速度快,精度高,能满足智能手机、电视机、微型显示器、AR / VR(扩增实境/虚拟现实)装置、智能穿戴装置等新型设备对各种光源测量需求,如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。
UPRtek凭借丰富分光技术,运用于显示设备色彩检验能力,提供业界色彩亮度检测方案,MD100N 辉度计因应需求而诞生。
市售LCD (LED背光源)& OLED显示屏有什么问题?
透过下图,我们明显察觉每片显示屏背光的发光辐射曲线不同。原因为,每片显示屏都有各自不同的面板特性,即使制造商生产出同一批显示屏,在其峰值处仍有5〜10nm的偏移现象,是人眼不见得所能察觉到的差异,亦即所谓面板特性。
面板特性差异导致色度误差?
Ans:是的
从实测可知,每当波长误差值为1nm偏移,色度误差可能达到0.0025。您能想象,当面板特性导致波长偏移量到5-10nm时,颜色差异会多严重? 所以,您需要量测能力优异的仪器- MD100N桌上型显示器解决方案替您把关。
■仪器能力差异造成什么问题?
传统的色彩分析仪光学设计多为RGB颜色分离滤镜,其特性可以模拟红绿蓝三色并估算出颜色,其数值与人眼光谱敏感度驱近。但,缺点有二:
1) 反射率或穿透率未列入计算,也没有标准观察者和视角,只凭RGB三点计算数值不客观。
2) RGB颜色分离滤镜制程无法完美控管→每片滤镜与CIE1931配色函数无法完美匹配。
以下表为例,可发现其误差值为±2%时→色度误差值大,约0.0066左右。
■从下图您可以发现什么?
由上述面板特性造成先天显示器之间的先天差异, 加上仪器能力及量测误差造成的后天因素, 我们从下图得到了一个非偶然发生的结果。
某些市场既存的测量设备, 因量测能力较不理想,无法有效控管及把关有质量疑虑的显示器相关产品, 进而终造成市场不良及市场客诉。
现在,你知道选对工具的重要性了吗?新型显示器检测技术专家-MD100N辉度计将会是您好帮手!
特点如下:
■近乎完美色度测量精度表现
采用高阶分光技术及拟合计算功能, 确保x(λ)/y(λ)/z(λ)光谱感度比拟CIE1931配色函数表现。 轻松提升色度精度,提供更贴近人眼视觉函数的量测结果。
■MD100N为显示器提升显示技术及显示质量的好帮手
以*分光技术提供客户更佳的色度精度表现及色度重现性,并支持显示器产品在高亮度至低 亮度范围内的GAMMA检测及调整工作。只为协助客户成就, 新型显示器所能赋予真实的视觉感受。
■满足多样应用的探头选择
提供不同收光尺寸的探头供用户选择,可有效满足手机OLED屏幕、AR/VR装置显示器、穿戴式装置等新型应用产品的测量需求。
可选尺寸 : Φ 10mm / Φ 5mmΦ 4mm / Φ 3mm
■主要测量参数:
亮度(cd/m-2 ) : 测量范围 0.001 ~ 5,000 cd/m-2
亮度精度 : +/- 3% @ 0.2~100 cd/m-2
色度(x/y) : 精度 +/- 0.003 @ 0.2 ~ 100 cd/m-2
Flicker : JEITA / VESA / CONTRAST (Max/Min),RMS, Time Domain, FFT
光谱 : 完整可见光谱数据/光谱图
■其他配置:
(1) 接口:USD/RS232
(2) 稳健耐久的金属外㱿
(3) 多元免费软件选择:
a.光谱分析软件(uSpectrum)
b. Flicker分析软件(uFlicker)
c. SDK开发包
中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计 技术规格:
光谱 |
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传感器 | CMOS 线性传感器 |
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光谱波长范围 | 380 to 780 nm |
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波长资料间隔 | 1 nm |
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光谱波宽 | 约12 nm (半波宽) |
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量测区域 | Ø10 mm |
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受光角度 | ±1° |
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波长再现性 | ± 1 nm |
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量测范围 | 0.001 to 5000 cd/m2 |
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亮度*1*2 | 测量范围 | 0.05~5000 cd/m2 |
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精度 | ±2% 100 to 5000 cd/m2 ±3% 0.2 to 100 cd/m2 ±4% 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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重复性 (2σ) *3 | 0.2% 100 to 5000 cd/m2 0.5% 0.2 to 100 cd/m2 0.8% 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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色度*1*2 | 测量范围 | 0.05~5000 cd/m2 |
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精度 | ±0.002 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 ±0.003 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 ±0.005 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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重复性 (2σ) *3 | 0.0005 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 0.001 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 0.002 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2 | ||
杂散光 | -25 dB max *4 | |||
偏极化误差 | <2% | |||
积分时间 | 100us to 5000 ms (快速模式/一般模式) | |||
数位分辨率 | 16 bits | |||
频闪 | ||||
测量范围 | 5 to 5000cd/m2 | |||
取样速度 | 100k sample/sec (adjustable) | |||
对比度 |
精度 | ±1%(30Hz AC/DC 10% 正弦波) | ||
±2%(60Hz AC/DC 10% 正弦波) | ||||
重复性 | 1%(20 to 65 Hz AC/DC 10% 正弦波) | |||
JEITA | 精度 | ±0.5dB(30Hz AC/DC 10% 正弦波) | ||
重复性 | 0.3dB(30 Hz AC/DC 10% 正弦波) | |||
特点 | ||||
量测功能 | 单次 / 连续 | |||
操作模式 | RS232 模式 / USB 模式(PC 连接) | |||
积分时间 | 自动 / 手动 | |||
暗校正 | 自动 | |||
光谱量测项目 | 1. 亮度(cd/m2) | |||
2. 相关色温(CCT) | ||||
3. C.I.E 色度坐标图 (1) CIE 1931 2-degree, 10-degree x,y Coordinates (2) CIE 1976 2-degree, 10-degree u',v' Coordinates (3) CIE 1931 XYZ Value | ||||
4. △x , △y , △u' , △v' | ||||
5. Delta uv(Duv) | ||||
6. 主波长(λd) | ||||
7. 色纯度(Excitation Purity) | ||||
8. 演色指数(CRI, Ra)/ R1 to R15 | ||||
9. 光谱功率分布(SPD)mW/m2 | ||||
10. 峰值波长(λp) | ||||
11. 峰值强度(λpV) | ||||
12. 积分时间(I-Time) | ||||
13. 暗明视觉比(S/P) | ||||
频闪量测项目 | 1. Max / Min, Average, RMS and Frequency | |||
| 2. JEITA | |||
| 3. VESA | |||
| 4. 频闪百分比(Percent Flicker) | |||
| 5. 频闪指数(Flicker Index) | |||
系统配置 | ||||
电源 | 变压器5V, 1.0A | |||
接口 | RS232 ; USB 2.0 | |||
尺寸 | 204 x 90 x 45 mm (长x 宽x 高) | |||
重量 | 630 g ± 10 g | |||
操作温度/ 湿度 | 0 to 35 ℃,相对湿度70%或以下,无冷凝 | |||
储存温度/ 湿度 | -10 to 40 ℃,相对湿度70%或以下,无冷凝 | |||
软件 | SDK Solution ( Windows platform ), uSPECTRUM, uFLICKER | |||
*1:在标准光源下(2856K、6500K & 9300K)进行亮度及色度测试。 *2:在温度23±2℃,相对湿度50%以下进行亮度及色度测试。 *3:在快门长开的状态下,进行重复性测试。 *4:使用550nm单频光输入与量测550nm±40nm位置的量测比例值。 | ||||