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中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计

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参数
产地类别:进口 价格区间:2万-5万 应用领域:医疗卫生,环保,能源,电子,综合
上海玖析科学仪器有限公司

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公司理念:诚信是做人之根本,立业之基,

服务精神:诚信、责任、热情、专业

详细信息

中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计

 

MD100N 显示器光学测量及检验方案

桌上型MD100N色彩亮度检测专家,实现新型显示器追求高对比度与色彩的优异表现。优异的光学分光技术及电子信号处理技术能取代Colormeter量测准度不足之问题。另外,MD100N分光式辉度计提供全面计算机分析软件(uSpectrum/uFlicker),用户可客制量测列表及进行大数据量测的分析,简化工作流程及加速作业时间。

桌上型辉度计-MD100N可以准确、简易测量显示面板光源亮度及色度值。关键参数包含亮度,CIE xy,Yxy,u’/ v’,GAMMA校正,白平衡调整等。整体量测速度快,精度高,能满足智能手机、电视机、微型显示器、AR / VR(扩增实境/虚拟现实)装置、智能穿戴装置等新型设备对各种光源测量需求,如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。

UPRtek凭借丰富分光技术,运用于显示设备色彩检验能力,提供业界色彩亮度检测方案,MD100N 辉度计因应需求而诞生。

 

市售LCD (LED背光源)& OLED显示屏有什么问题?

透过下图,我们明显察觉每片显示屏背光的发光辐射曲线不同。原因为,每片显示屏都有各自不同的面板特性,即使制造商生产出同一批显示屏,在其峰值处仍有510nm的偏移现象,是人眼不见得所能察觉到的差异,亦即所谓面板特性。

 

 

 

面板特性差异导致色度误差?

Ans:是的

 

从实测可知,每当波长误差值为1nm偏移,色度误差可能达到0.0025。您能想象,当面板特性导致波长偏移量到5-10nm时,颜色差异会多严重? 所以,您需要量测能力优异的仪器- MD100N桌上型显示器解决方案替您把关。

 

仪器能力差异造成什么问题?

传统的色彩分析仪光学设计多为RGB颜色分离滤镜,其特性可以模拟红绿蓝三色并估算出颜色,其数值与人眼光谱敏感度驱近。但,缺点有二:

 

1) 反射率或穿透率未列入计算,也没有标准观察者和视角,只凭RGB三点计算数值不客观。

 

2) RGB颜色分离滤镜制程无法完美控管→每片滤镜与CIE1931配色函数无法完美匹配。

 

以下表为例,可发现其误差值为±2%时→色度误差值大,约0.0066左右。

 

 

从下图您可以发现什么?

由上述面板特性造成先天显示器之间的先天差异, 加上仪器能力及量测误差造成的后天因素, 我们从下图得到了一个非偶然发生的结果。

 

某些市场既存的测量设备, 因量测能力较不理想,无法有效控管及把关有质量疑虑的显示器相关产品, 进而终造成市场不良及市场客诉。

 

 

 

 

现在,你知道选对工具的重要性了吗?新型显示器检测技术专家-MD100N辉度计将会是您好帮手!

 

特点如下:

近乎完美色度测量精度表现

采用高阶分光技术及拟合计算功能, 确保x(λ)/y(λ)/z(λ)光谱感度比拟CIE1931配色函数表现。 轻松提升色度精度,提供更贴近人眼视觉函数的量测结果。

 

 

MD100N为显示器提升显示技术及显示质量的好帮手

以*分光技术提供客户更佳的色度精度表现及色度重现性,并支持显示器产品在高亮度至低 亮度范围内的GAMMA检测及调整工作。只为协助客户成就, 新型显示器所能赋予真实的视觉感受。

 

满足多样应用的探头选择

提供不同收光尺寸的探头供用户选择,可有效满足手机OLED屏幕、AR/VR装置显示器、穿戴式装置等新型应用产品的测量需求。

 

可选尺寸 : Φ 10mm / Φ 5mmΦ 4mm / Φ 3mm

 

 

 

主要测量参数:

亮度(cd/m-2 ) : 测量范围 0.001 ~ 5,000 cd/m-2

亮度精度 : +/- 3% @ 0.2~100 cd/m-2

色度(x/y) : 精度 +/- 0.003 @ 0.2 ~ 100 cd/m-2

Flicker : JEITA / VESA / CONTRAST (Max/Min),RMS, Time Domain, FFT

光谱 : 完整可见光谱数据/光谱图

 

其他配置:

(1) 接口:USD/RS232

(2) 稳健耐久的金属外㱿

(3) 多元免费软件选择:

 

a.光谱分析软件(uSpectrum)

b. Flicker分析软件(uFlicker)

c. SDK开发包

 

中国台湾UPRtek群耀MD100N手持式辉度计亮度计 技术规格:

光谱

 

传感器

CMOS 线性传感器

 

光谱波长范围

380 to 780 nm

 

波长资料间隔

1 nm

 

光谱波宽

约12 nm (半波宽)

 

量测区域

Ø10 mm

 

受光角度

±1°

 

波长再现性

± 1 nm

 

量测范围

0.001 to 5000 cd/m2

 

亮度*1*2

测量范围

0.05~5000 cd/m2

 

精度

±2% 100 to 5000 cd/m2

±3% 0.2 to 100 cd/m2

±4% 0.05 to 0.2 cd/m2

 

重复性 (2σ) *3

0.2% 100 to 5000 cd/m2 0.5% 0.2 to 100 cd/m2

0.8% 0.05 to 0.2 cd/m2

 

色度*1*2

测量范围

0.05~5000 cd/m2

 

精度

±0.002 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2

±0.003 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2

±0.005 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2

 

 

 

重复性 (2σ) *3

0.0005 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2

0.001 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2

0.002 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2

杂散光

-25 dB max *4

偏极化误差

<2%

积分时间

100us to 5000 ms  (快速模式/一般模式)

数位分辨率

16 bits

频闪

测量范围

5 to 5000cd/m2

取样速度

100k sample/sec (adjustable)

 

对比度

 

精度

±1%(30Hz AC/DC 10%  正弦波)

±2%(60Hz AC/DC 10%  正弦波)

重复性

1%(20 to 65 Hz AC/DC 10% 正弦波)

 

JEITA

精度

±0.5dB(30Hz AC/DC 10% 正弦波)

重复性

0.3dB(30 Hz AC/DC 10% 正弦波)

特点

量测功能

单次 / 连续

操作模式

RS232 模式 / USB 模式(PC 连接)

积分时间

自动 / 手动

暗校正

自动

 

光谱量测项目

1.  亮度(cd/m2)

2.  相关色温(CCT)

3. C.I.E 色度坐标图

(1) CIE 1931 2-degree, 10-degree x,y Coordinates (2) CIE 1976 2-degree, 10-degree u',v' Coordinates (3) CIE 1931 XYZ Value

4. △x , △y , △u' , △v'

5. Delta uv(Duv)

6.  主波长(λd)

7.  色纯度(Excitation Purity)

8.  演色指数(CRI, Ra)/ R1 to R15

9.  光谱功率分布(SPD)mW/m2

10.  峰值波长(λp)

11.  峰值强度(λpV)

12.  积分时间(I-Time)

13.  暗明视觉比(S/P)

频闪量测项目

1. Max / Min, Average, RMS and Frequency

 

2. JEITA

 

3. VESA

 

4. 频闪百分比(Percent Flicker)

 

5. 频闪指数(Flicker Index)

系统配置

电源

变压器5V, 1.0A

接口

RS232 ; USB 2.0

尺寸

204 x 90 x 45 mm (长x 宽x 高)

重量

630 g ± 10 g

操作温度/ 湿度

0 to 35 ℃,相对湿度70%或以下,无冷凝

储存温度/ 湿度

-10 to 40 ℃,相对湿度70%或以下,无冷凝

软件

SDK Solution ( Windows platform ), uSPECTRUM, uFLICKER

*1:在标准光源下(2856K、6500K & 9300K)进行亮度及色度测试。

*2:在温度23±2℃,相对湿度50%以下进行亮度及色度测试。

*3:在快门长开的状态下,进行重复性测试。

*4:使用550nm单频光输入与量测550nm±40nm位置的量测比例值。

     

 

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